Разработка неразрушающих методов исследования полупроводников и низкоразмерных полупроводниковых структур
- Автор:
Корнилович, Александр Антонович
- Шифр специальности:
01.04.10
- Научная степень:
Докторская
- Год защиты:
2002
- Место защиты:
Новосибирск
- Количество страниц:
314 с. : ил
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Оптические свойства полупроводниковых соединений ZnIn2S4, CdGa2S4 и CdGa2Se4 | Райлян, Валентин Яковлевич | 1984 |
| Взаимная диффузия в GexSi1-x/Si гетероструктурах, выращенных методом МЛЭ | Кеслер, Валерий Геннадьевич | 2005 |
| Взаимодействие атомов Ge с поверхностными реконструкциями в системе Me/Si(111) | Чубенко, Дмитрий Николаевич | 2010 |