Разработка измерительного комплекса для контроля и исследования субмикронной КМОП технологии электрофизическими методами
- Автор:
Орешков, Максим Викторович
- Шифр специальности:
01.04.10
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2012
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
174 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Исследование влияния структурного совершенства и физико-химических обработок поверхности кремния на характеристики силовых диодов | Нам Чанг Сон | 1993 |
| Мощные ультрафиолетовые светоизлучающие диоды : характеристики и использование для контроля загрязнения воды | Шамирзаев, Владимир Тимурович | 2016 |
| Морфология эпитаксиальных слоёв при неизотропной атомной диффузии : Моделирование | Брунёв, Дмитрий Владиславович | 2006 |