Разработка измерительного комплекса для контроля и исследования субмикронной КМОП технологии электрофизическими методами
- Автор:
Орешков, Максим Викторович
- Шифр специальности:
01.04.10
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2012
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
174 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Диссертационная работа «Разработка измерительного комплекса для контроля и исследования субмикронной КМОП технологии электрофизическими методами», автор — Орешков, Максим Викторович, относится к типу: кандидатская диссертация по специальности 01.04.10. Работа подготовлена в городе Москва в 2012 году. Объем работы: 174 с. : ил.. Внутренний код товара: 01005475360. На странице представлены основные сведения о диссертации, включая название, автора, год, город, тип работы и шифр специальности.
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Исследование особенностей взаимодействия электромагнитных полей с полупроводниковыми приборами в схемах СВЧ | Скрипаль, Александр Владимирович | 1998 |
| Энергетическая структура многоэлектронных атомов | Кустов, Дмитрий Евгеньевич | 2000 |
| Инфракрасная полупроводниковая оптоэлектроника с использованием гетероструктур из арсенида индия и твердых растворов на его основе | Матвеев, Борис Анатольевич | 2010 |