Разработка измерительного комплекса для контроля и исследования субмикронной КМОП технологии электрофизическими методами
- Автор:
Орешков, Максим Викторович
- Шифр специальности:
01.04.10
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2012
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
174 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Диссертационная работа «Разработка измерительного комплекса для контроля и исследования субмикронной КМОП технологии электрофизическими методами», автор — Орешков, Максим Викторович, относится к типу: кандидатская диссертация по специальности 01.04.10. Работа подготовлена в городе Москва в 2012 году. Объем работы: 174 с. : ил.. Внутренний код товара: 01005475360. На странице представлены основные сведения о диссертации, включая название, автора, год, город, тип работы и шифр специальности.
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Долгоживущая спиновая поляризация в наноструктурах с квантовыми ямами и квантовыми точками | Чербунин, Роман Викторович | 2010 |
| Радиационно-термические процессы в кремниевых биполярных структурах и их влияние на электрофизические параметры | Лагов, Петр Борисович | 1999 |
| Формирование и свойства трехмерных GaAs/InGaAs наноструктур : Нанотрубок, спиралей и мембран с туннельными переходами | Селезнев, Владимир Александрович | 1999 |