Развитие емкостных методов измерения профилей легирования полупроводниковых структур
- Автор:
Уткин, Алексей Борисович
- Шифр специальности:
01.04.10
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
1999
- Место защиты:
Санкт-Петербург
- Количество страниц:
155 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Диагностика квантовых ям в системе (In, Ga)As/GaAs методом стационарной емкостной спектроскопии | Цвелев, Егор Олегович | 2003 |
| Кинетика и термодинамика комплексообразования и кластеризации дефектов в кремнии и германии | Светухин, Вячеслав Викторович | 1999 |
| Электронная структура, геометрия и спиновые свойства монофталоцианинов переходных металлов и элементов III и IV группы | Тихонов, Евгений Васильевич | 2012 |