Развитие емкостных методов измерения профилей легирования полупроводниковых структур
- Автор:
Уткин, Алексей Борисович
- Шифр специальности:
01.04.10
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
1999
- Место защиты:
Санкт-Петербург
- Количество страниц:
155 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Влияние поляризации фононов на перенос фононов в полупроводниках и диэлектриках | Гусейнов, Ниязи Музафарович | 1984 |
| Массоперенос в полупроводниковых материалах с участием жидкой фазы | Саланов, Андрей Александрович | 2005 |
| Влияние подложки на структуру металлических и полупроводниковых слоев в гетерокомпозициях на основе A3B5 по данным электронной микроскопии | Ловыгин, Михаил Вячеславович | 2015 |