Развитие емкостных методов измерения профилей легирования полупроводниковых структур
- Автор:
Уткин, Алексей Борисович
- Шифр специальности:
01.04.10
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
1999
- Место защиты:
Санкт-Петербург
- Количество страниц:
155 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Диссертационная работа «Развитие емкостных методов измерения профилей легирования полупроводниковых структур», автор — Уткин, Алексей Борисович, относится к типу: кандидатская диссертация по специальности 01.04.10. Работа подготовлена в городе Санкт-Петербург в 1999 году. Объем работы: 155 с. : ил.. Внутренний код товара: 01000222924. На странице представлены основные сведения о диссертации, включая название, автора, год, город, тип работы и шифр специальности.
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Спиновые расщепления валентной зоны в полупроводниковых квантовых ямах и квантовых точках | Дурнев, Михаил Васильевич | 2014 |
| Создание и исследование инжекционных лазеров с контролируемым профилем концентрации носителей на основе РbS1-xSex | Синятынский, Алексей Алексеевич | 1984 |
| Исследование пробоя щелочно-галоидных кристаллов импульсами лазерного излучения лямбда=10,6 МКМ | Крутякова, Валентина Павловна | 1984 |