Развитие емкостных методов измерения профилей легирования полупроводниковых структур
- Автор:
Уткин, Алексей Борисович
- Шифр специальности:
01.04.10
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
1999
- Место защиты:
Санкт-Петербург
- Количество страниц:
155 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Моделирование устойчивого роста поверхности в процессе молекулярно-пучковой эпитаксии соединений AIIIBV | Бойко, Андрей Михайлович | 2007 |
| Особенности электронных и кинетических свойств анизотропных и кластерных полупроводниковых структур | Власов, Артур Николаевич | 2014 |
| Исследование излучательных характеристик гетероструктур InGaAsP/IпР и лазеров на их основе | Тарасов, Илья Сергеевич | 1983 |