Развитие емкостных методов измерения профилей легирования полупроводниковых структур
- Автор:
Уткин, Алексей Борисович
- Шифр специальности:
01.04.10
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
1999
- Место защиты:
Санкт-Петербург
- Количество страниц:
155 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Влияние внешних воздействий на структуру и некоторые физические свойства фосфида галлия и кремния | Лю Сын Нам, 0 | 1985 |
| Моделирование физических явлений в инноимплантированных приборных структурах на основе соединений A III B U | Диденко, Сергей Иванович | 2000 |
| Микроструктура и свойства тонких пленок SnO2, предназначенных для создания сенсоров восстановительных газов | Сергейченко, Надежда Владимировна | 2013 |