Применение методов фотоэлектронной эмиссии на краях рентгеновского поглощения для исследования полупроводниковых структур и диэлектриков
- Автор:
Юрьев, Юрий Николаевич
- Шифр специальности:
01.04.10
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
1999
- Место защиты:
Санкт-Петербург
- Количество страниц:
117 с.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Исследование распределения зарядов и электрических полей в приборных наноструктурах методами сканирующей зондовой микроскопии | Алексеев, Прохор Анатольевич | 2013 |
| Получение твердых растворов (SiC)1-x(AlN)x методом магнетронного распыления и исследование их свойств | Гусейнов, Марат Керимханович | 2004 |
| Исследование плёнок твёрдых растворов PbTe-SnTe, легированных индием, в области составов вблизи инверсии зон | Ищенко Денис Вячеславович | 2019 |