Количественный рентгеноспектральный микроанализ оксидов и халькогенидов элементов II и IV групп
- Автор:
Румянцева, Анна Игоревна
- Шифр специальности:
01.04.10
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
1999
- Место защиты:
Санкт-Петербург
- Количество страниц:
159 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Спин-зависимые и нелинейно-оптические явления при внутризонном поглощении в полупроводниковых структурах | Бельков, Василий Валентинович | 2004 |
| Дефектообразование в структурах Si-SiO2 в процессе полевого воздействия | Мустафа Назар Селман | 1999 |
| Эффекты межзонного туннелирования в полупроводниковых гетероструктурах | Захарова, Анна Александровна | 1998 |