Экситонная спектроскопия полупроводниковых квантовых ям и сверхрешеток
- Автор:
Кочерешко, Владимир Петрович
- Шифр специальности:
01.04.07
- Научная степень:
Докторская
- Год защиты:
1998
- Место защиты:
Санкт-Петербург
- Количество страниц:
106 с.; 20х15 см
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Наноразмерные исследования материалов лазерной агломерации ультрадисперсных включений в минеральном и техногенном сырье | Храпов, Игорь Валерьевич | 2013 |
| Упругие и неупругие свойства тонких пленок Si3N4, SiO2-SnO2, SiO2-B2O3 и системы Cu-Se, обусловленные включениями второй фазы | Ильин, Александр Сергеевич | 2006 |
| Пьезоэлектрические, пироэлектрические и упругие свойства микротрубок дифенилаланина | Васильев Семен Григорьевич | 2016 |