Фрактальный анализ наноструктур аморфных пленок на основе данных дифракции электронов и рентгеновских лучей
- Автор:
Саврасова, Наталья Александровна
- Шифр специальности:
01.04.07
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2000
- Место защиты:
Воронеж
- Количество страниц:
133 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Диссертационная работа «Фрактальный анализ наноструктур аморфных пленок на основе данных дифракции электронов и рентгеновских лучей», автор — Саврасова, Наталья Александровна, относится к типу: кандидатская диссертация по специальности 01.04.07. Работа подготовлена в городе Воронеж в 2000 году. Объем работы: 133 с. : ил.. Внутренний код товара: 01000306548. На странице представлены основные сведения о диссертации, включая название, автора, год, город, тип работы и шифр специальности.
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Максвелл-вагнеровская релаксация эффективных констант гетерогенных систем, содержащих сегнетоэлектрические компоненты | Радченко, Григорий Сергеевич | 2006 |
| Теоретическое исследование коллективных явлений в электронных и электронно-дырочных системах в низкоразмерных структурах | Васильченко, Александр Анатольевич | 2019 |
| Исследование межэлектронного взаимодействия в двумерных и квази-одномерных системах в арсениде галлия | Прокудина, Мария Геннадьевна | 2012 |