Фрактальный анализ наноструктур аморфных пленок на основе данных дифракции электронов и рентгеновских лучей
- Автор:
Саврасова, Наталья Александровна
- Шифр специальности:
01.04.07
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2000
- Место защиты:
Воронеж
- Количество страниц:
133 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Фазовые диаграммы и критические индексы одномерного изинговского магнетика | Шабунина, Евгения Валерьевна | 2013 |
| Равновесная атомная структура и колебательные свойства чистых металлических поверхностей и адсорбционных структур | Русина, Галина Геннадьевна | 2010 |
| Распространение нелинейных электромагнитных волн в неоднородных квантовых сверхрешетках | Попов, Константин Алексеевич | 1998 |