Фрактальный анализ наноструктур аморфных пленок на основе данных дифракции электронов и рентгеновских лучей
- Автор:
Саврасова, Наталья Александровна
- Шифр специальности:
01.04.07
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2000
- Место защиты:
Воронеж
- Количество страниц:
133 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Излучение осциллирующего точечного диполя из металло-диэлектрических фотонно-кристаллических слоистых структур | Лобанов, Сергей Владимирович | 2013 |
| Доменная структура многоосных сегнетоэлектрических кристаллов и ее формирование при фазовых переходах | Гавриляченко, Виктор Георгиевич | 1998 |
| Исследование низкотемпературной деформационной поляризации монокристаллов | Мелентьев, Альберт Григорьевич | 1984 |