Фотоэмиссионная активность структурных дефектов в SiO2 и силикатных стеклах
- Автор:
Бирюков, Дмитрий Юрьевич
- Шифр специальности:
01.04.07
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2001
- Место защиты:
Екатеринбург
- Количество страниц:
198 с. : ил
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Магнитные взаимодействия в спиновых системах полупроводниковых гетероструктур | Коренев, Владимир Львович | 2003 |
| Исследование явлений переноса в кристаллах без центра симметрии | Стурман, Борис Ицхакович | 1984 |
| Атомно-силовая микроскопия кристаллов лизоцима ромбической модификации | Гвоздев, Николай Викторович | 2001 |