Фотоэмиссионная активность структурных дефектов в SiO2 и силикатных стеклах
- Автор:
Бирюков, Дмитрий Юрьевич
- Шифр специальности:
01.04.07
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2001
- Место защиты:
Екатеринбург
- Количество страниц:
198 с. : ил
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Диссертационная работа «Фотоэмиссионная активность структурных дефектов в SiO2 и силикатных стеклах», автор — Бирюков, Дмитрий Юрьевич, относится к типу: кандидатская диссертация по специальности 01.04.07. Работа подготовлена в городе Екатеринбург в 2001 году. Объем работы: 198 с. : ил. Внутренний код товара: 01000332380. На странице представлены основные сведения о диссертации, включая название, автора, год, город, тип работы и шифр специальности.
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Оптические переходы, туннельные и баллистические эффекты в полупроводниковых наноструктурах | Алешкин, Владимир Яковлевич | 2002 |
| Структурная модель стеклования сплава Ni60-Ag40 | Прядильщиков, Алексей Юрьевич | 2008 |
| Термоактивационный анализ и пластическое поведение монокристаллов сплава NI3GE в опытах по релаксации напряжений, вариации скоростей и температур деформации | Геттингер, Максим Викторович | 2011 |