Исследование локальных характеристик полупроводниковых структур методом поверхностного электронно-индуцированного потенциала в растровой электронной микроскопии
- Автор:
Чжу Шичю
- Шифр специальности:
01.04.04
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2001
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
172 с.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Применение метода совпадений для исследования эмиссии вторичных частиц при ионной бомбардировке твердого тела | Дубский, Геннадий Алексеевич | 1984 |
| Исследование проникновения изотопов водорода через низкоактивируемые материалы | Черкез, Дмитрий Ильич | 2018 |
| Нестационарные процессы при предельных плотностях тока автоэлектронной эмиссии | Глазанов, Дмитрий Валентинович | 1985 |