Исследование локальных характеристик полупроводниковых структур методом поверхностного электронно-индуцированного потенциала в растровой электронной микроскопии
- Автор:
Чжу Шичю
- Шифр специальности:
01.04.04
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2001
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
172 с.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Диссертационная работа «Исследование локальных характеристик полупроводниковых структур методом поверхностного электронно-индуцированного потенциала в растровой электронной микроскопии», автор — Чжу Шичю, относится к типу: кандидатская диссертация по специальности 01.04.04. Работа подготовлена в городе Москва в 2001 году. Объем работы: 172 с.. Внутренний код товара: 01000334684. На странице представлены основные сведения о диссертации, включая название, автора, год, город, тип работы и шифр специальности.
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Электрические и оптические свойства низкоразмерных полупроводниковых сверхструктур в условиях воздействия сильных внешних полей | Кухарь, Егор Иванович | 2007 |
| Дифракция и неупругое рассеяние электронов средних энергий в кристаллах | Подсвиров, Олег Алексеевич | 2000 |
| Развитие модулированных и полярных фаз в соединениях на основе перовскитных антисегнетоэлектриков | Бронвальд, Юрий Алексеевич | 2017 |