Исследование локальных характеристик полупроводниковых структур методом поверхностного электронно-индуцированного потенциала в растровой электронной микроскопии
- Автор:
Чжу Шичю
- Шифр специальности:
01.04.04
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2001
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
172 с.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Диагностика населенностей и процессов релаксации колебательных и вращательных состояний молекул в газах методом КАРС | Фабелинский, Виктор Иммануилович | 1984 |
| Физические свойства железосодержащих матриц и нанокомпозитных мультиферроидных материалов на их основе | Поречная, Надежда Ивановна | 2013 |
| Энергетические спектры высокодисперсионных электронных спектрометров | Марциновский, Иван Артемьевич | 2011 |