Исследование локальных характеристик полупроводниковых структур методом поверхностного электронно-индуцированного потенциала в растровой электронной микроскопии
- Автор:
Чжу Шичю
- Шифр специальности:
01.04.04
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2001
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
172 с.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Диссертационная работа «Исследование локальных характеристик полупроводниковых структур методом поверхностного электронно-индуцированного потенциала в растровой электронной микроскопии», автор — Чжу Шичю, относится к типу: кандидатская диссертация по специальности 01.04.04. Работа подготовлена в городе Москва в 2001 году. Объем работы: 172 с.. Внутренний код товара: 01000334684. На странице представлены основные сведения о диссертации, включая название, автора, год, город, тип работы и шифр специальности.
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Численное исследование трехмерных многомодовых электродинамических систем электронных СВЧ приборов | Кулыгин, Максим Львович | 2006 |
| Исследование релаксации электрического заряда при электронно-лучевой обработке диэлектрических материалов | Гринфельд, Дмитрий Эдуардович | 1999 |
| Физические процессы при конкуренции видов колебаний | Ермолаев, Александр Владимирович | 2006 |