Исследование локальных характеристик полупроводниковых структур методом поверхностного электронно-индуцированного потенциала в растровой электронной микроскопии
- Автор:
Чжу Шичю
- Шифр специальности:
01.04.04
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2001
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
172 с.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Исследование динамических процессов в джозефсоновских устройствах сверхпроводниковой электроники | Корнев, Виктор Константинович | 2007 |
| Исследование прикатодных процессов в устройствах сильноточной электроники | Олещук, Олег Валентинович | 2003 |
| Оптимизированные оптические системы и отражающие покрытия для мягкого рентгеновского диапазона длин волн | Крымский, Кирилл Михайлович | 2000 |