Методы сканирующей зондовой микроскопии в исследовании поверхностных наноструктур

• Автор: Еремченко, Максим Дмитриевич
• Шифр специальности: 01.04.04
• Научная степень: Кандидатская
• Год защиты: 1998
• Место защиты: Москва
• Количество страниц: 167 с.

Содержание.
Введение
Глава I. Современное состояние и проблемы зондовой микроскопии
1.1. Устройство и основные типы конструкций сканирующих зондовых микроскопов
1.1.1. Основные типы виброзащиты
1.1.2. Конструкции устройства сближения зонда и образца
1.1.3. Основные типы устройств сканирования
1.1.4. Системы регистрации сигнала
1.2. Анализ применяющихся в зондовой микроскопии режимов работы
1.2.1. Режимы работы туннельного микроскопа
1.2.2. Основные режимы, применяющиеся в атомно-силовой микроскопии
1.3. Некоторые результаты исследований поверхности методами зондовой микроскопии
1.3.1. Обзор работ в области туннельной микроскопии
1.3.2. Обзор результатов применения атомно-силовой микроскопии

Глава II. Разработка конструкции механической части зондового микроскопа
2.1. Особенности конструкции и оценки шумовых характеристик микроскопа
2.2. Конструкция механической части микроскопа
2.3. Исследование характеристик микроскопа на основе тестовых экспериментов
2.3.1. Измерения силы давления кантилевера на исследуемую поверхность
2.3.2. Измерения собственных частот колебаний механической части прибора
2.3.3. Изображения тестовых поверхностей
2.4. Математическая модель фазового контраста в тэппинг моде атомносиловой микроскопии
Глава III. Исследования полупроводниковых объектов методами зондовой микроскопии
3.1. Исследования структуры сверхрешёток GaAlAs/GaAs
3.2. Исследования поверхностных гетероструктур GaAs/inGaAs
Глава IV. Результаты применения зондовой микроскопи в исследованиях молекулярных поверхностных структур
4.1. Исследования молекулярных кластеров фуллеренов Сбо
4.2. Исследования молекулярных монослоёв фуллеренов Сбо

Глава V. Результаты применения зондовой микроскопии для исследования биомолекулярных объектов
5.1. Исследования формы адсорбированных молекул ДНК
5.2. Применение зондовой микроскопии для регистрации и исследования структуры вирусов
5.2.1. Исследования структуры парвовируса методами туннельной микроскопии
5.2.2. Применение методов атомно-силовой микроскопии для регистрации вирусов
Заключение
Список литературы

Держатель
Рис. 1.7. Схематическое изображение зонда, подведённого к поверхности.
Сила давления зонда на поверхность при применении контактной методики изменяется в диапазоне от 10'4 до 10"* Н. Верхний предел величины силы взаимодействия острия и поверхности определяется начатом разрушения материалов и ограничен коэффициентом упругости стандартных кантилеверов, этот коэффициент известен для каждого типа зондов. Нижний предел определяется силами межмолекулярного взаимодействия.
В то время как остриё зонда упирается в поверхность, то есть находится в зоне межмолекулярного отталкивания (см. Рис. 1.8), остальная часть иглы находится в области притяжения. Это притяжение добавляется к силе упругости, возникающей при деформации гибкого элемента кантилевера, и определяет минимальную силу давления зонда на поверхность. При работе в атмосферных условиях на исследуемую поверхность может адсорбироваться влага из атмосферы, в этом случае