Методы сканирующей зондовой микроскопии в исследовании поверхностных наноструктур
- Автор:
Еремченко, Максим Дмитриевич
- Шифр специальности:
01.04.04
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
1998
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
167 с.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Свойства спектрографических сред на базе полей, однородных по Эйлеру с нецелочисленными порядками однородности | Аверин, Игорь Андреевич | 2018 |
| Корреляционная природа мотт-пайерлсовского фазового перехода изолятор-металл в диоксиде ванадия | Квашенкина, Ольга Евгеньевна | 2013 |
| Электрические и оптические свойства низкоразмерных полупроводниковых сверхструктур в условиях воздействия сильных внешних полей | Кухарь, Егор Иванович | 2007 |