Новые ультрадисперсные минеральные фазы лунного реголита по данным аналитической электронной микроскопии

• Автор: Мохов, Андрей Владимирович
• Шифр специальности: 25.00.05
• Научная степень: Докторская
• Год защиты: 2009
• Место защиты: Москва
• Количество страниц: 287 с. : ил.

Структура работы. Ангстрем А. Аналитический просвечивающий электронный микроскоп АПЭМАРЕМ. Вторичные и отраженные электроны. Качественный, полуколичественный и количественный анализ. Массовая толщина образца. Микродифракция. Микромикродифракция. Микрозонд. Микрон. Разрешение. Тонкий тонкопленочный образец. Частица. Точность. Характеристическое и тормозное излучение. Приборы и методы. Япония VXVX, США. СМ ii, Нидерланды i 0 x I, Великобритания
, Япония. ЯПОНИЯ I 0 X I, ВЕЛИКОБРИТАНИЯ. V , Япония. ГЛАВА 1. СИСТЕМАТИКА АНАЛИТИЧЕСКОЙ АППАРАТУРЫ. ОТРАЖЕННЫЕ ЭЛЕКТРОНЫ. Проходящиеэлектроны
1. Характеристики современных электронных микроскопов. Сканирующие электронные микроскопы СЭМ. Просвечивающие электронные микроскопы ПЭМТЕМл. Обеспечение количественного анализа в АСЭМ. Способ подготовки эталонов для количественного анализа. Анализ элементного состава в просвечивающем электронном микроскопе. Основные методы анализа и расчета состава тонких образцов. Метод количественного анализа без процедуры нормировки.


Имеет паспортное разрешение по точкам 1. А по линиям. Использовался эпизодически. АСЭМ I 0 оборудован большой камерой, вмещающей образцы диаметром до и высотой до 4. Образец можно наклонять в пределах от до и вращать без ограничения. Разрешение во вторичных электронах может достигать А. Аналитический блок способен обнаруживать элементы, начиная с бериллия. Количественный анализ без проблем осуществляется для всех элементов, начиная с . Кроме того, в ряде случаев возможно прямое количественное определение кислорода. ЭДС обеспечивает получение картин распределения элементов в аналоговой и цифровой в процентах содержания формах и, соответственно, такие же профили. Система ввода изображений спектрометра позволяет оцифровывать, регистрировать и сохранять в банке данных ЭВМ картины, полученные на СЭМ. АСЭМ V имеет такую же камеру для образцов, что и . Разрешение во вторичных электронах может достигать А. Но это микроскоп следующего поколения, полностью цифровой. Изображение объекта в нем сразу формируется на компьютерном мониторе, управление полностью цифровое, посредством того же компьютера. Аналитический блок тоже принадлежит к современному поколению спектрометров. Выраженные в цифрах характеристики этих приборов не сильно различаются, но кардинально изменились качество изображения, удобство работы и скорость выполнения операций. Кроме того, V является низковакуумным микроскопом, позволяя изучать водосодержащие и газящие в вакууме образцы, а обычные без традиционного напыления углеродом.