Термические характеристики и стабильность тонких пленок на основе a-Si:H и его сплавов и халькогенидных полупроводников системы Ge-Sb-Te
- Автор:
Горшкова, Екатерина Викторовна
- Шифр специальности:
05.27.06
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2010
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
173 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Разработка технологии пластин полупроводниковых соединений AIIIBV современной точности обработки | Мальвинова, Ольга Валерьевна | 2004 |
| Получение и исследование свойств наногетерогенных структур на основе системы вольфрам-углерод | Чмырова, Ольга Леонидовна | 2001 |
| Получение, структурные и электрофизические исследования новых сегнетоэлектрических и родственных фаз оксидных систем (1-x)Ba(Ti1-yZry)O3.xPbTiO3, (Pb1-xBax)5Ge3O11, Pb3Mn7O15 | Степанов, Александр Викторович | 2018 |