Голографическая диагностика газофазных процессов микроэлектроники
- Автор:
Антоненко, Константин Иванович
- Шифр специальности:
05.27.06
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2000
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
143 с.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Разработка состава и методов получения активированного Bi модельного стекла на силикатной основе и исследование факторов, влияющих на формирование в нем ИК люминесцирующих центров | Шульман, Илья Леонидович | 2013 |
| Моделирование диффузионных процессов изотермической жидкофазной эпитаксии полупроводников | Савченко, Владислав Анатольевич | 2000 |
| Ионно-лучевое осаждение наноразмерных структур GaInPAs-GaAs | Гусев, Дмитрий Александрович | 2015 |