Электрофизические свойства пленок SnO2 и гетероструктур n-SnO2 / p-Si
- Автор:
Плешков, Алексей Петрович
- Шифр специальности:
05.27.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2007
- Место защиты:
Воронеж
- Количество страниц:
123 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Моделирование работы и процессов деградации МОП транзисторов, обусловленных воздействием ионизирующего излучения | Зебрев, Геннадий Иванович | 2003 |
| Разработка глобального метода экстракции статических Spice параметров микроэлектронных приборов на основе моделирования вольтамперных характеристик | Корчагин, Александр Федорович | 2006 |
| Численное исследование коллективных процессов в микроэлектронных структурах и оптимизация приборов больших интегральных схем | Стрелкова, Надежда Григорьевна | 2009 |