Диагностика плазменных технологических процессов микро- и наноэлектроники
- Автор:
Руденко, Константин Васильевич
- Шифр специальности:
05.27.01
- Научная степень:
Докторская
- Год защиты:
2007
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
298 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Атомарная структура поверхности и сенсорные свойства углеродных нанотрубок | Строганов, Антон Александрович | 2007 |
| Моделирование нелинейных СВЧ преобразующих устройств на полевых транзисторах с затвором шотки | Осадчий, Евгений Николаевич | 2007 |
| Численное исследование коллективных процессов в микроэлектронных структурах и оптимизация приборов больших интегральных схем | Стрелкова, Надежда Григорьевна | 2009 |