Диагностика плазменных технологических процессов микро- и наноэлектроники
- Автор:
Руденко, Константин Васильевич
- Шифр специальности:
05.27.01
- Научная степень:
Докторская
- Год защиты:
2007
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
298 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Исследование сегнетоэлектрической керамики на основе титаната бария-стронция для применений в сверхвысокочастотных устройствах | Павлова, Юлия Валерьевна | 2008 |
| Конструктивно-технологический базис ИС на КНИ-подложках | Сопова, Ольга Владимировна | 2005 |
| Гетероструктуры с Ge(Si) самоформирующимися наноостровками и квантовыми точками на Si(001) подложках и релаксированных SiGe/Si(001) буферных слоях: особенности роста и фотолюминесценции | Шалеев, Михаил Владимирович | 2006 |