Диагностика плазменных технологических процессов микро- и наноэлектроники
- Автор:
Руденко, Константин Васильевич
- Шифр специальности:
05.27.01
- Научная степень:
Докторская
- Год защиты:
2007
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
298 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Оптические характеристики полимерных композиционных материалов с квантовыми точками для фотоэлектрических преобразователей и оптоэлектронных устройств хранения данных | Кульбацкий, Дмитрий Михайлович | 2009 |
| Разработка технологии изготовления материалов состава Bi2SexTe1-x и исследование термоэлектрических микромодулей на их основе | Ландышев, Владимир Александрович | 2008 |
| Методы зондовой диагностики микроструктур: теория, моделирование и обратные задачи | Зайцев, Сергей Иванович | 2000 |