Статистические модели контроля выхода годных и технологических потерь в производстве СБИС
- Автор:
Руднев, Андрей Валерьевич
- Шифр специальности:
05.27.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2003
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
122 с. : ил
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Границы раздела в гетероструктурных фотоэлектрических преобразователях солнечного излучения | Гудовских, Александр Сергеевич | 2014 |
| Разработка системы изотопного анализа UF6 и мониторинга HF в атмосфере на основе полупроводниковых приборов | Семенов, Владимир Михайлович | 2014 |
| Разработка отдельных базовых процессов формирования активных областей силовых кремниевых транзисторов | Шангереева, Бийке Алиевна | 2006 |