Статистические модели контроля выхода годных и технологических потерь в производстве СБИС
- Автор:
Руднев, Андрей Валерьевич
- Шифр специальности:
05.27.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2003
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
122 с. : ил
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Диссертационная работа «Статистические модели контроля выхода годных и технологических потерь в производстве СБИС», автор — Руднев, Андрей Валерьевич, относится к типу: кандидатская диссертация по специальности 05.27.01. Работа подготовлена в городе Москва в 2003 году. Объем работы: 122 с. : ил. Внутренний код товара: 01002613735. На странице представлены основные сведения о диссертации, включая название, автора, год, город, тип работы и шифр специальности.
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Анализ транспорта электронов в гетероструктурах квазибаллистических полевых транзисторов с учетом топологии кластеров радиационных дефектов | Киселева, Екатерина Валерьевна | 2006 |
| Локализованные и резонансные состояния мелких акцепторов в напряженных полупроводниковых гетероструктурах и одноосно деформированном германии | Козлов, Дмитрий Владимирович | 2003 |
| Экспериментальное исследование когерентного излучения в распределённых джозефсоновских системах | Левичев, Максим Юрьевич | 2004 |