Статистические модели контроля выхода годных и технологических потерь в производстве СБИС
- Автор:
Руднев, Андрей Валерьевич
- Шифр специальности:
05.27.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2003
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
122 с. : ил
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Диссертационная работа «Статистические модели контроля выхода годных и технологических потерь в производстве СБИС», автор — Руднев, Андрей Валерьевич, относится к типу: кандидатская диссертация по специальности 05.27.01. Работа подготовлена в городе Москва в 2003 году. Объем работы: 122 с. : ил. Внутренний код товара: 01002613735. На странице представлены основные сведения о диссертации, включая название, автора, год, город, тип работы и шифр специальности.
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Предельные напряжения двух и трехмерных p-n переходов в высоковольтных полупроводниковых приборах | Шалимов, Олег Николаевич | 2003 |
| Исследование и разработка методов создания поверхностно-акустических фильтров на базе квазивеерных однофазных однонаправленных преобразователей | Туркин, Илья Алексеевич | 2010 |
| Микроэлектронная технология изготовления тонкопленочных датчиков газов | Просвирин, Денис Борисович | 2005 |