Статистические модели контроля выхода годных и технологических потерь в производстве СБИС
- Автор:
Руднев, Андрей Валерьевич
- Шифр специальности:
05.27.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2003
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
122 с. : ил
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Кольцевые вихри в ограниченных сверхпроводниках | Самохвалов, Алексей Владимирович | 1998 |
| Моделирование электрических характеристик СВЧ-генераторов с внутренней обратной связью на биполярном транзисторе | Мазеев, Евгений Валентинович | 2011 |
| Исследование сегнетоэлектрической керамики на основе титаната бария-стронция для применений в сверхвысокочастотных устройствах | Павлова, Юлия Валерьевна | 2008 |