Статистические модели контроля выхода годных и технологических потерь в производстве СБИС
- Автор:
Руднев, Андрей Валерьевич
- Шифр специальности:
05.27.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2003
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
122 с. : ил
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Микромощные АЦП для многоканальных устройств сбора данных и систем на кристалле | Бутузов, Владимир Алексеевич | 2014 |
| Конструкторский синтез спецвычислителей на базе ПЛИС методом функциональной декомпозиции | Волков, Андрей Валентинович | 2005 |
| Увеличение удельной выходной мощности и коэффициента усиления DpHEMT - транзисторов за счет повышения степени локализации горячих электронов в канале | Лукашин, Владимир Михайлович | 2015 |