Развитие методов атомно-силовой микроскопии для контроля электрических и электрофизических параметров объектов микроэлектроники
- Автор:
Коровкина, Наталья Михайловна
- Шифр специальности:
05.27.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2006
- Место защиты:
Санкт-Петербург
- Количество страниц:
140 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Фотолюминесцентный преобразователь в эффективных светодиодах белого цвета излучения | Феопёнтов, Анатолий Валерьевич | 2011 |
| Морфологические особенности зарождения пор в процессе формирования макропористого кремния | Гаврилин, Евгений Юрьевич | 2006 |
| Высокопрочные шунтирующий и блокирующий диоды солнечных батарей космических аппаратов | Дидык, Павел Игоревич | 2014 |