Применение ионизирующего излучения для ускоренных испытаний на надежность МОП интегральных микросхем
- Автор:
Чжо Ко Вин
- Шифр специальности:
05.27.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2013
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
99 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Диссертационная работа «Применение ионизирующего излучения для ускоренных испытаний на надежность МОП интегральных микросхем», автор — Чжо Ко Вин, относится к типу: кандидатская диссертация по специальности 05.27.01. Работа подготовлена в городе Москва в 2013 году. Объем работы: 99 с. : ил.. Внутренний код товара: 01006773816. На странице представлены основные сведения о диссертации, включая название, автора, год, город, тип работы и шифр специальности.
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Твердотельный датчик газов как элемент системы дистанционного мониторинга воздушной среды | Стукалов, Вадим Владиславович | 2005 |
| Формирование поверхностей заданного профиля методами термопластического и упругого изгиба и нанесение на них многослойных наноструктур для систем управления рентгеновским излучением | Ахсахалян, Арам Давидович | 2002 |
| Рекристаллизация тонких поликремниевых пленок плоским электронным лучом | Горшков, Виталий Валерьевич | 2004 |