Применение ионизирующего излучения для ускоренных испытаний на надежность МОП интегральных микросхем
- Автор:
Чжо Ко Вин
- Шифр специальности:
05.27.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2013
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
99 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Конструктивно-технологический базис микроэлектромеханических систем для диафрагменных электроакустических преобразователей | Ильков, Андрей Владимирович | 2007 |
| Полупроводниковые структуры для мембранных кремниевых фотоэлектрических преобразователей | Максимов, Юрий Алексеевич | 2004 |
| Обеспечение качества паяных соединений кристаллов в полупроводниковых приборах для силовой электроники в процессе их разработки и серийного производства | Сегал, Юрий Ефимович | 2001 |