Применение ионизирующего излучения для ускоренных испытаний на надежность МОП интегральных микросхем
- Автор:
Чжо Ко Вин
- Шифр специальности:
05.27.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2013
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
99 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Диссертационная работа «Применение ионизирующего излучения для ускоренных испытаний на надежность МОП интегральных микросхем», автор — Чжо Ко Вин, относится к типу: кандидатская диссертация по специальности 05.27.01. Работа подготовлена в городе Москва в 2013 году. Объем работы: 99 с. : ил.. Внутренний код товара: 01006773816. На странице представлены основные сведения о диссертации, включая название, автора, год, город, тип работы и шифр специальности.
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Фотостимуляция твердотельных сенсорных структур на основе кремния и полиэлектролитного покрытия | Козловский, Александр Валерьевич | 2019 |
| Физические свойства и механизмы формирования низкоразмерных кремниевых структур во фторсодержащих средах | Проказников, Александр Владимирович | 2001 |
| Исследование ростовых дефектов упаковки монокристаллического кремния рентгенотопографическим методом на основе эффекта Бормана | Анисимов, Василий Геннадьевич | 2004 |