Применение ионизирующего излучения для ускоренных испытаний на надежность МОП интегральных микросхем
- Автор:
Чжо Ко Вин
- Шифр специальности:
05.27.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2013
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
99 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Изготовление и свойства эпитаксиальных пленочных гетероструктур на основе высокотемпературного сверхпроводника YBa2 Cu3 O x | Можаев, Петр Борисович | 1998 |
| Исследование и разработка моделей быстродействующих микроэлектронных коммутаторов на основе туннельно-связанных квантовых областей | Аль-Саман Амгад Али Хасан | 2018 |
| Активация адсорбционных процессов на поверхности SNO2 методами легирования Ag и Pd и воздействием оптического излучения | Багнюков, Кирилл Николаевич | 2013 |