Получение и исследование тонких пленок нитрида алюминия и фотоприемных структур на их основе
- Автор:
Спивак, Андрей Михайлович
- Шифр специальности:
05.27.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2009
- Место защиты:
Санкт-Петербург
- Количество страниц:
122 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Диагностические методы оценки надежности полупроводниковых изделий с использованием электростатических разрядов | Адамян, Александр Гариивич | 2003 |
| Рекристаллизация тонких поликремниевых пленок плоским электронным лучом | Горшков, Виталий Валерьевич | 2004 |
| Молекулярно-лучевая эпитаксия низкоразмерных систем на основе гетероструктурных и δ-легированных квантовых ям на подложках GaAs различной ориентации | Галиев, Галиб Бариевич | 2003 |