Нелинейно-оптическая диагностика сегнетоэлектрических тонких пленок и наноструктур для микроэлектроники
- Автор:
Шерстюк, Наталия Эдуардовна
- Шифр специальности:
05.27.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2005
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
196 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Твердотельные ядерные магнито-резонансные (ЯМР) ансамблевые квантовые компьютеры : Исследования физических основ и проблем реализации | Кокин, Александр Александрович | 2003 |
| Особенности ионно-плазменного травления арсенида галлия и фосфида индия применительно к элементам твердотельной электроники | Кушхов, Аскер Русланович | 2004 |
| Особенности взаимодействия СВЧ-излучения с фотонными кристаллами, содержащими в качестве неоднородностей диэлектрические, полупроводниковые и металлические включения | Пономарев, Денис Викторович | 2012 |