Нелинейно-оптическая диагностика сегнетоэлектрических тонких пленок и наноструктур для микроэлектроники
- Автор:
Шерстюк, Наталия Эдуардовна
- Шифр специальности:
05.27.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2005
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
196 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Методы получения и характеристики полиимид - кремниевых микроактюаторов и устройств микромеханики на их основе | Корпухин, Андрей Сергеевич | 2012 |
| Разработка и исследование технологических основ формирования наноструктур на основе арсенида галлия методом молекулярно-лучевой эпитаксии для элементов микро- и наноэлектроники | Солодовник, Максим Сергеевич | 2013 |
| Фасетирование при локальной твердофазной и молекулярно-лучевой эпитаксии кремния на кремнии | Изюмская, Наталия Федоровна | 1999 |