Методики, улучшающие качество компонентов микроэлектронной аппаратуры космического назначения
- Автор:
Сипета, Роман Владимирович
- Шифр специальности:
05.27.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2008
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
133 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Диагностические методы оценки надежности полупроводниковых изделий с использованием электростатических разрядов | Адамян, Александр Гариивич | 2003 |
| Сегнетоэлектрики типа перовскит (BaxSr1-xTiO3) для СВЧ применений : электродинамические свойства и методики измерений | Котельников, Игорь Витальевич | 2017 |
| Разработка системы изотопного анализа UF6 и мониторинга HF в атмосфере на основе полупроводниковых приборов | Семенов, Владимир Михайлович | 2014 |