Диагностические методы оценки качества и надежности полупроводниковых приборов с использованием низкочастотного шума
- Автор:
Жарких, Александр Петрович
- Шифр специальности:
05.27.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2005
- Место защиты:
Воронеж
- Количество страниц:
98 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Плёнки диоксида ванадия в устройствах индикаторной техники и микроэлектроники | Олейник, Анатолий Семёнович | 2004 |
| Увеличение удельной выходной мощности и коэффициента усиления DpHEMT - транзисторов за счет повышения степени локализации горячих электронов в канале | Лукашин, Владимир Михайлович | 2015 |
| Физические свойства полупроводниковых пленок диоксида олова для датчиков газов | Свистова, Тамара Витальевна | 1999 |