Диагностические методы оценки качества и надежности полупроводниковых приборов с использованием низкочастотного шума
- Автор:
Жарких, Александр Петрович
- Шифр специальности:
05.27.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2005
- Место защиты:
Воронеж
- Количество страниц:
98 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Модели индукционных взаимодействий в конструкциях мощных ВЧ и СВЧ транзисторов на основе изоморфно-коллективного подхода | Булгаков, Олег Митрофанович | 2006 |
| Разработка системы изотопного анализа UF6 и мониторинга HF в атмосфере на основе полупроводниковых приборов | Семенов, Владимир Михайлович | 2014 |
| Магнитостатическое взаимодействие низкокоэрцитивных объектов в микроэлектронных устройствах | Скиданов, Владимир Александрович | 2004 |