Диагностические методы оценки качества и надежности полупроводниковых приборов с использованием низкочастотного шума
- Автор:
Жарких, Александр Петрович
- Шифр специальности:
05.27.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2005
- Место защиты:
Воронеж
- Количество страниц:
98 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Аналитические модели статических и переходных характеристик длиннобазовых биполярных транзисторов с изолированным затвором (БТИЗ) | Николаенков, Юрий Кимович | 2000 |
| Исследования и разработка гибридных интегральных микросхем для малошумящих входных устройств и охлаждаемых МШУ КВЧ диапазона | Миннебаев, Вадим Минхатович | 2002 |
| Электронные свойства графена и других двумерных кристаллов | Морозов, Сергей Владимирович | 2010 |