Диагностические методы оценки качества и надежности полупроводниковых приборов с использованием низкочастотного шума
- Автор:
Жарких, Александр Петрович
- Шифр специальности:
05.27.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2005
- Место защиты:
Воронеж
- Количество страниц:
98 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Неравновесные фазовые превращения в примесно-дефектных подсистемах алмазоподобных полупроводников | Шерешевский, Дмитрий Изяславович | 2002 |
| Моделирование влияния температурных режимов технологического процесса изготовления интегральных микросхем на их радиационную стойкость | Гришаков, Владимир Владимирович | 2003 |
| Физические основы и принципы проектирования интегральных полупроводниковых датчиков переменных давлений | Драгунов, Валерий Павлович | 2005 |