Контроль кристаллов интегральных схем на основе статистического моделирования методом точечных распределений
- Автор:
Столяренко, Юлия Александровна
- Шифр специальности:
05.27.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2006
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
194 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Диссертационная работа «Контроль кристаллов интегральных схем на основе статистического моделирования методом точечных распределений», автор — Столяренко, Юлия Александровна, относится к типу: кандидатская диссертация по специальности 05.27.01. Работа подготовлена в городе Москва в 2006 году. Объем работы: 194 с. : ил.. Внутренний код товара: 01003010572. На странице представлены основные сведения о диссертации, включая название, автора, год, город, тип работы и шифр специальности.
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Резонансно-туннельные явления в однобарьерных GaAs/AlAs/GaAs гетероструктурах | Ханин, Юрий Николаевич | 2002 |
| Неравновесные фазовые переходы, индуцированные ионной бомбардировкой, на примерер силикатных систем | Цырулев, Андрей Анатольевич | 2006 |
| СВЧ твердотельные приемные модули на GaN и SiGe гибридных и монолитных интегральных схемах | Перевезенцев, Александр Владимирович | 2012 |