Контроль кристаллов интегральных схем на основе статистического моделирования методом точечных распределений
- Автор:
Столяренко, Юлия Александровна
- Шифр специальности:
05.27.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2006
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
194 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Создание высокоэффективных теплоотводов на основе поликристаллического алмаза для мощных полупроводниковых приборов | Ратникова, Александра Константиновна | 2012 |
| Моделирование малосигнальных параметров мощных ВЧ и СВЧ МОП транзисторов с вертикальной и горизонтальной структурой | Меньшиков, Павел Александрович | 2004 |
| Методы построения источников опорного напряжения в составе интегральных микросхем | Гулевич, Павел Владимирович | 2000 |