Синтез методов и средства неразрушающего контроля качества полупроводниковых изделий на основе моделей неизотермического токораспределения в приборных структурах
- Автор:
Сергеев, Вячеслав Андреевич
- Шифр специальности:
05.27.01
- Научная степень:
Докторская
- Год защиты:
2005
- Место защиты:
Ульяновск
- Количество страниц:
328 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Закономерности релаксации упругих напряжений и диффузия в псевдоморфных SiGe/Si структурах | Аврутин, Виталий Семенович | 1999 |
| Влияние сверхкоротких импульсов электромагнитного излучения на электрические параметры биполярных и полевых структур | Левченко, Виктор Николаевич | 2008 |
| Физико-технологические основы формирования трехмерных микроструктур УБИС плазменными методами | Путря, Михаил Георгиевич | 2002 |