Влияние миграции точечных дефектов на радиационную стойкость гетерофазного полупроводника
- Автор:
Бухаров, Владимир Эдуардович
- Шифр специальности:
05.27.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2003
- Место защиты:
Саратов
- Количество страниц:
117 с. : ил
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Исследование и разработка новых схемо-топологических решений элементов библиотек заказных КМДП СБИС | Шубин, Владимир Владимирович | 2013 |
| Полевой датчик Холла на основе структур "кремний на изоляторе" | Леонов, Алексей Владимирович | 2013 |
| Формирование поверхностей заданного профиля методами термопластического и упругого изгиба и нанесение на них многослойных наноструктур для систем управления рентгеновским излучением | Ахсахалян, Арам Давидович | 2002 |