Влияние миграции точечных дефектов на радиационную стойкость гетерофазного полупроводника
- Автор:
Бухаров, Владимир Эдуардович
- Шифр специальности:
05.27.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2003
- Место защиты:
Саратов
- Количество страниц:
117 с. : ил
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Диссертационная работа «Влияние миграции точечных дефектов на радиационную стойкость гетерофазного полупроводника», автор — Бухаров, Владимир Эдуардович, относится к типу: кандидатская диссертация по специальности 05.27.01. Работа подготовлена в городе Саратов в 2003 году. Объем работы: 117 с. : ил. Внутренний код товара: 01002609009. На странице представлены основные сведения о диссертации, включая название, автора, год, город, тип работы и шифр специальности.
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Импульсная плазменная очистка технологических сред от микробиологических объектов в производстве изделий микро- и наноэлектроники | Савкин, Алексей Владимирович | 2002 |
| Физико-технологические основы формирования контактов к карбиду кремния методами импульсной термообработки | Агеев, Олег Алексеевич | 2005 |
| Разработка и исследование быстродействующих наноструктур СБИС с управляемой передислокацией максимума амплитуды волновых функций носителей заряда | Рындин, Евгений Адальбертович | 2007 |