Влияние миграции точечных дефектов на радиационную стойкость гетерофазного полупроводника
- Автор:
Бухаров, Владимир Эдуардович
- Шифр специальности:
05.27.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2003
- Место защиты:
Саратов
- Количество страниц:
117 с. : ил
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Диссертационная работа «Влияние миграции точечных дефектов на радиационную стойкость гетерофазного полупроводника», автор — Бухаров, Владимир Эдуардович, относится к типу: кандидатская диссертация по специальности 05.27.01. Работа подготовлена в городе Саратов в 2003 году. Объем работы: 117 с. : ил. Внутренний код товара: 01002609009. На странице представлены основные сведения о диссертации, включая название, автора, год, город, тип работы и шифр специальности.
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Исследование и разработка методов и средств проектирования микросистем высокой надежности | Блохина, Вероника Борисовна | 2001 |
| Диагностические методы оценки надежности интегральных схем с использованием шумовых параметров | Смирнов, Дмитрий Юрьевич | 2006 |
| Электрические и фотоэлектрические свойства гетероструктур ZnS-GaP | Сусляков, Юрий Васильевич | 2004 |