Влияние миграции точечных дефектов на радиационную стойкость гетерофазного полупроводника
- Автор:
Бухаров, Владимир Эдуардович
- Шифр специальности:
05.27.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2003
- Место защиты:
Саратов
- Количество страниц:
117 с. : ил
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Исследование твердотельных микро- и наноструктур методом спектроскопии отраженных электронов | Лукашевский, Михаил Владимирович | 2007 |
| Магнитоэлектрические свойства композиционных феррит-пьезоэлектрических материалов | Петров, Владимир Михайлович | 2004 |
| Разработка инженерных методов проектирования и создание гибридно-интегральных транзисторных усилителей мощности сантиметрового диапазона длин волн для передатчиков доплеровских РЛС | Шипило, Евгений Михайлович | 2017 |