Диагностика источников электронов по двумерным изображениям
- Автор:
Чебуркин, Александр Николаевич
- Шифр специальности:
05.27.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2001
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
126 с.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Диссертационная работа «Диагностика источников электронов по двумерным изображениям», автор — Чебуркин, Александр Николаевич, относится к типу: кандидатская диссертация по специальности 05.27.01. Работа подготовлена в городе Москва в 2001 году. Объем работы: 126 с.. Внутренний код товара: 01000334663. На странице представлены основные сведения о диссертации, включая название, автора, год, город, тип работы и шифр специальности.
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Особенности взаимодействия СВЧ-излучения с фотонными кристаллами, содержащими в качестве неоднородностей диэлектрические, полупроводниковые и металлические включения | Пономарев, Денис Викторович | 2012 |
| Диагностика плазменных технологических процессов микро- и наноэлектроники | Руденко, Константин Васильевич | 2007 |
| Исследование ростовых дефектов упаковки монокристаллического кремния рентгенотопографическим методом на основе эффекта Бормана | Анисимов, Василий Геннадьевич | 2004 |