Приборы и методы сканирующей зондовой микроскопии для исследования и модификации поверхностей
- Автор:
Быков, Виктор Александрович
- Шифр специальности:
05.27.01, 01.04.01
- Научная степень:
Докторская
- Год защиты:
2000
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
402 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Разработка математических моделей и средств проектирования прецизионных источников опорного напряжения в составе интегральных схем | Рябченков, Сергей Сергеевич | 2004 |
| Комплексные исследования электрофизических свойств термически окисленных слоев кремния в производстве полупроводниковых приборов с проектной нормой 0,5-0,8 мкм | Дудников, Анатолий Сергеевич | 2002 |
| Магнитостатическое взаимодействие низкокоэрцитивных объектов в микроэлектронных устройствах | Скиданов, Владимир Александрович | 2004 |