Приборы и методы сканирующей зондовой микроскопии для исследования и модификации поверхностей
- Автор:
Быков, Виктор Александрович
- Шифр специальности:
05.27.01, 01.04.01
- Научная степень:
Докторская
- Год защиты:
2000
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
402 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Диагностические методы оценки качества и надежности полупроводниковых приборов с использованием низкочастотного шума | Жарких, Александр Петрович | 2005 |
| Разработка технологии изготовления материалов состава Bi2SexTe1-x и исследование термоэлектрических микромодулей на их основе | Ландышев, Владимир Александрович | 2008 |
| Моделирование электрических характеристик СВЧ-генераторов с внутренней обратной связью на биполярном транзисторе | Мазеев, Евгений Валентинович | 2011 |