Прогнозирование ресурса элементов технологических машин лесных нижних складов по индивидуальным характеристикам усталости

• Автор: Копнов, Виталий Анатольевич
• Шифр специальности: 05.21.01, 05.02.02
• Научная степень: Докторская
• Год защиты: 1999
• Место защиты: Екатеринбург
• Количество страниц: 302 с. : ил.

Анализ амплитуд процесса нагружения

2. Логнорматьное распределение 5

из предварительного анализа процесса нагружения. После оценки плотности вероятности рАе, Д. Д, всегда можно проверить условие

рАе0 рАе,Д 1

где Д. Д оценки параметров распределения, г уровень значимости например, 0,. Если это условие не выполняется, то следует увеличить и повторить расчет. Диапазон О. Вероятность события, состоявшегося в том. Де попадает в интерват 1, вычисляется следующим образом. Р, 1,2,. В предположении достаточной длины реатизации большого числа циклов нагружения ,го можно заменить эту вероятность соответствующей статистической частотой. РкУАе, 1,2,. Таким образом, исходный процесс дХО заменяется схематизированным процессом, состоящим из ш блоков, каждый из которых содержит V, циклов с размахом Аг, ,. АИ И о , либо цДЛ И о , относительное изменение начального сопротивления датчика после некоторого числа циклов деформирования п с размахом А, . Мультипликатор, разметенный в исследуемом месте конструкции преобразует относительную деформацию его базы ео0 в деформации баз датчиков, установленных на разных уровнях.

Анализ амплитуд процесса нагружения

2. Логнорматьное распределение 5

из предварительного анализа процесса нагружения. После оценки плотности вероятности рАе, Д. Д, всегда можно проверить условие

рАе0 рАе,Д 1

где Д. Д оценки параметров распределения, г уровень значимости например, 0,. Если это условие не выполняется, то следует увеличить и повторить расчет. Диапазон О. Вероятность события, состоявшегося в том. Де попадает в интерват 1, вычисляется следующим образом. Р, 1,2,. В предположении достаточной длины реатизации большого числа циклов нагружения ,го можно заменить эту вероятность соответствующей статистической частотой. РкУАе, 1,2,. Таким образом, исходный процесс дХО заменяется схематизированным процессом, состоящим из ш блоков, каждый из которых содержит V, циклов с размахом Аг, ,. АИ И о , либо цДЛ И о , относительное изменение начального сопротивления датчика после некоторого числа циклов деформирования п с размахом А, . Мультипликатор, разметенный в исследуемом месте конструкции преобразует относительную деформацию его базы ео0 в деформации баз датчиков, установленных на разных уровнях. В работе показана возможность аппроксимации тарировочных кривых 1.