Разработка и исследование методов синтеза импульсных тестов для автоматизации проверки КМОП СБИС на этапах изготовления и эксплуатации телекоммуникационного оборудования

• Автор: Фрейман, Владимир Исаакович
• Шифр специальности: 05.13.07
• Научная степень: Кандидатская
• Год защиты: 2000
• Место защиты: Пермь
• Количество страниц: 114 с. : ил.

1. АНАЛИТИЧЕСКИЙ ОБЗОР. ПОСТАНОВКА ЗАДАЧИ

1.1. Цели и задачи тестового диагностирования ДУ.

1.2. Диагностические модели ДУ.

1.3. Обзор существующих методов тестирования ДУ

1.4. Выводы по главе.

2. ДИАГНОСТИЧЕСКАЯ МОДЕЛЬ ДУ СОВРЕМЕННЫХ ТЕХНОЛОГИЙ

2.1. Обзор применяемых моделей дефектов ДУ.

2.2. Диагностическая модель ИС современных технологий

2.2.1. Традиционная константная модель дефектов

2.2.2. Модель дефектов КМОПустройств

2.3. Необходимость применения импульсных тестов

2.4. Выводы но главе.
3. ИССЛЕДОВАНИЕ И РАЗРАБОТКА МЕТОДОВ И АЛГОРИТМОВ ДИАГНОСТИРОВАНИЯ ОДНОКРАТНЫХ И СОЧЕТАНИЯ ОДНОКРАТНЫХ ДЕФЕКТОВ ИЗ РКД В ДУ
3.1. Основные понятия и определения математического аппарата БД
3.2. Применение тестовой функции для диагностики ДУ
3.2.1. Тестовая функция для статического теста.
3.2.2. Тестовая функция для вариационного теста
3.2.3. Тестовая функция для импульсного теста
3.3. Построение импульсных тестов обнаружения однократных дефектов из РКД.
3.3.1. Обнаружение однократных константных дефектов
3.3.2. Обнаружение однократных перемычек, приводящих к коротким замыканиям.
3.3.3. Обнаружение однократных перемычек, приводящих к образованию обратных связей.
3.4. Построение импульсных тестовых наборов обнаружения сочетания однократных дефектов из РКД.
3.4.1. Обнаружение сочетаний однократных КД и КЗ.
3.4.2. Обнаружение сочетания однократных КД и ОС.
3.5. Выводы но главе.
4. ИССЛЕДОВАНИЕ И РАЗРАБОТКА МЕТОДОВ И АЛГОРИТМОВ ДИАГНОСТИРОВАНИЯ КРАТНЫХ ДЕФЕКТОВ ИЗ РКД В ДУ.
4.1. Построение импульсных тестов обнаружения сочетания кратных дефектов типа КД
4.2. Построение импульсных тестов обнаружения сочетания кратных дефектов типа КД и КЗ.
4.2.1. Обнаружение сочетания кратных КД и однократного КЗ
4.2.2. Условия возникновения компенсации кратными дефектами из РКД
4.3. Построение импульсных тестов обнаружения сочетания кратных дефектов типа КД и ОС.
4.4. Выводы по главе.
5. РАЗРАБОТКА И ИССЛЕДОВАНИЕ МЕТОДОВ ДИАГНОСТИРОВАНИЯ КОНТРОЛЕПРИГОДНЫХ КМОП СБИС
5.1. Анализ объекта диагностирования.
5.2. Методы и средства повышения контролепригодности современных КМОП ПЛИС.
5.3. Разработка методов и алгоритмов диагностики контролепригодных СБИС современных технологий.
5.4. Выводы по главе.
6. РЕАЛИЗАЦИЯ МЕТОДОВ СИНТЕЗА ИМПУЛЬСНЫХ ТЕСТОВ ДЛЯ АВТОМАТИЗАЦИИ ДИАГНОСТИРОВАНИЯ ЦИФРОВЫХ МОДУЛЕЙ ТЕЛЕКОММУНИКАЦИОННОЙ АППАРАТУРЫ.
6.1. Место диагностирования в процессе производства телекоммуникационной аппарату ры. Структура АСТД
6.2. Диагностика современных СБИС на этапе изготовления изделия
6.3. Диагностика цифровых функциональных модулей, использующих КМОП СБИС, на этапе эксплуатации телекоммуникационных систем.
6.4. Выводы по главе.
ЗАКЛЮЧЕНИЕ
СПИСОК ИСПОЛЬЗОВАННОЙ ЛИТЕРАТУРЫ


В технической диагностике выделяют два вида задач диагностирования обнаружение дефектов неисправностей, имеющее бинарный исход есть дефекты нет дефектов, поиск дефекта, нацеленный на определение места и, возможно, причин имеющегося в объекте дефекта неисправности. Часто задачу обнаружения дефекта называют контролем технического состояния, а задачу поиска дефекта диагностированием технического состояния объекта. Эти определения подчеркивают размерность решаемых задач. Контроль и диагностирование технического состояния изделия производятся на основе контроля и измерения параметров изделия. Контроль параметров заключается в проверке условия соотвстст
вия их значений заранее заданным и выражается в вынесении бинарного решения по каждому параметру типа годен не годен. Измерение параметров имеет своей целью установление значений параметров с дальнейшей обработкой. Практически к этим операциям и сводится диагностирование объекга. Обычно задачи диагностирования решаются в следующей последовательности Рис. Рис. ОД, взаимодействуя со средствами диагностирования, образует два типа систем диагностирования Рис. В системах функционального диагностирования СФД на объект поступают функциональные рабочие воздействия X из множества предусмотренных алгоритмом функционирования. В случае, если X не полностью повторяет все множество возможных входных воздействий, с помощью СФД производится проверка правильности функционирования. Если же подается полное множество возможных входных воздействий, то СФД позволяет проводить проверку работоспособности 2.