Разработка и исследование новых способов и систем управления при диагностике состава и структурных особенностей материалов в атомно-эмиссионном анализе

• Автор: Руденко, Евгений Григорьевич
• Шифр специальности: 05.13.07
• Научная степень: Кандидатская
• Год защиты: 2000
• Место защиты: Владимир
• Количество страниц: 191 с. : ил.

ЛАВА 1. Зависимость интенсивности излучения от процентного содержания элементов. Способы количественной оценки интенсивности излучения спектральных линий. Фотоэлектрический метод исследования . Способы расчета погрешностей в спектральном анализе . Оценка погрешностей при фотографическом методе . Основные принципы построения автоматизированных систем. Способы автоматизации фотографического анализа . ЛАВА 2. СИСТЕМ УПРАВЛЕНИЯ ПРИ КОЛИЧЕСТВЕННОМ И СТРУКТУРНОМ АНАЛИЗЕ МЕТОДОМ КОНТРОЛЬНОГО ЭТАЛОНА ДЛЯ ВСЕГО ДИАПАЗОНА . Метод определения количественного содержания элементов. Сущность фазовых измерений. Постановка задачи. Уравнения для фазового смещения. Оценка степени гомологичности аналитических пар. Метод оценки гомологичности по фазовым соотношениям . ВЫВОДЫ. ГЛАВА 3. РАЗРАБОТКА И ИССЛЕДОВАНИЕ НОВЫХ МЕТОДОВ МНОГОПАРАМЕТРОВОГО АНАЛИЗА НА ОСНОВЕ ФИЗИЧЕСКОГО МОДЕЛИРОВАНИЯ КОЛИЧЕСТВЕННОГО СОДЕРЖАНИЯ ЭЛЕМЕНТОВ . Постановка задачи исследования. Структурная схема и алгоритм анализа. Алгоритм программы расчета .


ЛАВА 2. СИСТЕМ УПРАВЛЕНИЯ ПРИ КОЛИЧЕСТВЕННОМ И СТРУКТУРНОМ АНАЛИЗЕ МЕТОДОМ КОНТРОЛЬНОГО ЭТАЛОНА ДЛЯ ВСЕГО ДИАПАЗОНА . Метод определения количественного содержания элементов. Сущность фазовых измерений. Постановка задачи. Уравнения для фазового смещения. Оценка степени гомологичности аналитических пар. Метод оценки гомологичности по фазовым соотношениям . ВЫВОДЫ. ГЛАВА 3. РАЗРАБОТКА И ИССЛЕДОВАНИЕ НОВЫХ МЕТОДОВ МНОГОПАРАМЕТРОВОГО АНАЛИЗА НА ОСНОВЕ ФИЗИЧЕСКОГО МОДЕЛИРОВАНИЯ КОЛИЧЕСТВЕННОГО СОДЕРЖАНИЯ ЭЛЕМЕНТОВ . Постановка задачи исследования. Структурная схема и алгоритм анализа. Алгоритм программы расчета . Исследование физикомеханических свойств материалов . ВЫВОДЫ 9
и линии сравнения, образующих аналитическую пару. При фотоэлектрическом методе определения процентного содержания измеряют относительное напряжение, соответствующее излучению данной длины волны. Каждый из этих случаев имеет свои особенности и поэтому подлежит рассмотрению в отдельности. Фотографический метод исследования. В основе метода лежит использование фотопластинок для регистрации спектрального излучения. Связь интенсивности излучения, о плотностью почернения неодыазначна и может быть представлена, как показано на. В 1 местах воздействия на фотопластинку излучения и при последующим проявлении,. При этом появляется фон и на яезасвеченных участках с плотностью почернения Ьф см. Нелинейный участок ав является областью недодержек, линейный участок вс соответствует области нормальных почернений. Б т1еН , 1. Рис.