Интеллектуальные системы логического проектирования Ts - согласованных цифровых устройств

• Автор: Бажанов, Юрий Сергеевич
• Шифр специальности: 05.13.01
• Научная степень: Докторская
• Год защиты: 1998
• Место защиты: Нижний Новгород
• Количество страниц: 403 с. : ил.

Введение. От традиционных САПР к интеллектуальным системам проектирования цифровых устройств. О потоковом подходе к ТБ согласованию ЦУ при их логическом проектировании с помощью интеллектуальных систем. От классических методов проверки функций и аппаратуры к вероятностному функционально логическому анализу ЦУ. Глава вторая. Т8 согласование цифровых вычислительных устройств. Т8 согласование операционных элементов комбинационного типа. Объекты ТБ согласования. Постановка задачи. Алгоритм ТБ согласования ОЭКТ с гипотетическими связями между блоками. ТБ согласование произвольных комбинационных схем. Особенности ТБ согласования ОУ с У А типа Мили. Особенности ТБ согласования ОУ с УА типа Мура. Глава третья. ТБ согласование параллельных проблемноориентированных цифровых вычислительных систем. Параллельные ГС А. Минимальные разбиения операторов. ТБсогласование параллельных ЦВС. Действительно, если первые типовые элементы замены так называемые ТЭЗы насчитывали в своем составе всего лишь несколько логических элементов, то современные кристаллы БИС и СБИС содержат уже десятки и сотни тысяч вентилей.

Точная граница по числу

входов определяется возможностью организации полного перебора входных наборов за приемлемое время. К средней степени сложности отнесем комбинационные схемы, имеющие практически произвольное число входов и выходов и содержащие не более нескольких тысяч логических элементов. Точная граница по числу логических элементов зависит от возможности построения теста обычными классическими методами за выделенное время на доступных ресурсах имеющейся вычислительной системы. Наконец, к большой степени сложности отнесем комбинационные схемы, для которых не возможен полный перебор входных наборов и практически перестают работать классические тестовые методы. Остановимся на первой вехе. Она в основном соответствует началу применения цифровых устройств. Сложность диагностируемых объектов естественно при этом была невелика и допускала полный перебор входных наборов. Задача построения теста здесь не возникта, поскольку использовался тривиальный тест, включающийся в себя все различные двоичные наборы. Фактически на этом этапе развития методов диагностики производилась проверка функций устройства путем определения его реакции и сравнения ее с правильной реакцией на каждый из всех возможных входных наборов. С ростом сложности цифровых устройств неизбежно должен был наступить этап и он в свое время наступил, когда полный перебор стат невозможным. И вот тогда был сделан переход от проверки функций к проверке аппаратуры. К этому времени стало ясно, что излишне гарантировать правильность выполнения функций, достаточно гарантировать отсутствие в устройстве наиболее вероятных неисправностей.