Электрофизические основы контроля изображений наноструктуры поверхности в сканирующем туннельном микроскопе для изучения кластерных материалов
- Автор:
Тюриков, Александр Валерьевич
- Шифр специальности:
05.11.14, 05.11.13
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2004
- Место защиты:
Ижевск
- Количество страниц:
174 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Исследование трансформации химических примесей в атмосфере и оценка экологического риска как условие повышения информативности системы мониторинга | Чернявский, Сергей Анатольевич | 2015 |
| Усовершенствование метода неразрушающего контроля компакт-дисков | Чугреев, Сергей Александрович | 2010 |
| Метод прогнозирования загрязнения поверхностных вод на основе модели контроля с использованием ГИС-технологий : На примере Орловского региона | Плетнев, Андрей Леонидович | 2005 |