Электрофизические основы контроля изображений наноструктуры поверхности в сканирующем туннельном микроскопе для изучения кластерных материалов
- Автор:
Тюриков, Александр Валерьевич
- Шифр специальности:
05.11.14, 05.11.13
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2004
- Место защиты:
Ижевск
- Количество страниц:
174 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Диссертационная работа «Электрофизические основы контроля изображений наноструктуры поверхности в сканирующем туннельном микроскопе для изучения кластерных материалов», автор — Тюриков, Александр Валерьевич, относится к типу: кандидатская диссертация по специальности 05.11.14, 05.11.13. Работа подготовлена в городе Ижевск в 2004 году. Объем работы: 174 с. : ил.. Внутренний код товара: 01002742773. На странице представлены основные сведения о диссертации, включая название, автора, год, город, тип работы и шифр специальности.
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Метод диагностирования штанговых глубинных насосных установок | Цапко, Ирина Валериевна | 1999 |
| Разработка фотоионизационного генераторного детектора газов и паров | Иванова, Наталья Игоревна | 2017 |
| Метод контроля состояния моторных масел по концентрации продуктов старения и противоизносным свойствам | Верещагин, Валерий Иванович | 2014 |