Электрофизические основы контроля изображений наноструктуры поверхности в сканирующем туннельном микроскопе для изучения кластерных материалов
- Автор:
Тюриков, Александр Валерьевич
- Шифр специальности:
05.11.14, 05.11.13
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2004
- Место защиты:
Ижевск
- Количество страниц:
174 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Средства и методы контроля геометрических параметров и механических свойств твердых тел с микро- и нанометровым пространственным разрешением | Гоголинский, Кирилл Валерьевич | 2015 |
| Метод и средства контроля токсичности водных сред по реакции гальванотаксиса инфузорий | Ковалевская, Алла Станиславовна | 2006 |
| Разработка и реализация импульсного способа контактной кондуктометрии с треугольной формой питающего напряжения | Кагиров, Артур Геннадьевич | 2013 |