Электрофизические основы контроля изображений наноструктуры поверхности в сканирующем туннельном микроскопе для изучения кластерных материалов
- Автор:
Тюриков, Александр Валерьевич
- Шифр специальности:
05.11.14, 05.11.13
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2004
- Место защиты:
Ижевск
- Количество страниц:
174 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Развитие теории магнитно-акустических шумов, создание способов и средств неразрушающего контроля технологических и эксплуатационных свойств изделий из высокопрочных сталей | Филинов, Владимир Викторович | 2001 |
| Система оптического спектрального контроля с высокопорядковой дифракционной решеткой | Казаков, Василий Иванович | 2019 |
| Развитие методов акустического неразрушающего контроля и создание устройств на базе информационных технологий с антенными системами и малоапертурными преобразователями | Самокрутов, Андрей Анатольевич | 2003 |