Электрофизические основы контроля изображений наноструктуры поверхности в сканирующем туннельном микроскопе для изучения кластерных материалов
- Автор:
Тюриков, Александр Валерьевич
- Шифр специальности:
05.11.14, 05.11.13
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2004
- Место защиты:
Ижевск
- Количество страниц:
174 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Диссертационная работа «Электрофизические основы контроля изображений наноструктуры поверхности в сканирующем туннельном микроскопе для изучения кластерных материалов», автор — Тюриков, Александр Валерьевич, относится к типу: кандидатская диссертация по специальности 05.11.14, 05.11.13. Работа подготовлена в городе Ижевск в 2004 году. Объем работы: 174 с. : ил.. Внутренний код товара: 01002742773. На странице представлены основные сведения о диссертации, включая название, автора, год, город, тип работы и шифр специальности.
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Методика оценки и повышения метрологической надежности при проектировании и эксплуатации средств неразрушающего контроля теплофизических свойств материалов | Селезнев, Андрей Владимирович | 2000 |
| Исследование, разработка и внедрение ионизационно-газовых способов и средств контроля герметичности | Добротин, Сергей Алексеевич | 2000 |
| Методы и средства контроля формы асферических поверхностей крупногабаритных и светосильных оптических элементов на основе использования осевых синтезированных голограмм | Ларионов, Николай Петрович | 2002 |