Технологическое обеспечение качества поверхности полупроводниковых пластин информационно-измерительных устройств
- Автор:
Игонина, Татьяна Ивановна
- Шифр специальности:
05.11.14, 05.02.08
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2007
- Место защиты:
Пенза
- Количество страниц:
152 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Диссертационная работа «Технологическое обеспечение качества поверхности полупроводниковых пластин информационно-измерительных устройств», автор — Игонина, Татьяна Ивановна, относится к типу: кандидатская диссертация по специальности 05.11.14, 05.02.08. Работа подготовлена в городе Пенза в 2007 году. Объем работы: 152 с. : ил.. Внутренний код товара: 01003321407. На странице представлены основные сведения о диссертации, включая название, автора, год, город, тип работы и шифр специальности.
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Исследование и разработка технологического процесса изготовления субмикронных затворов гетероструктурных СВЧ транзисторов методом контактной фотолитографии | Великовский, Илья Эдуардович | 2009 |
| Исследование и разработка конструкции и технологии изготовления интегрально-оптических демультиплексоров для информационно-измерительных приборов и систем | Костенко, Кирилл Николаевич | 2008 |