Технологическое обеспечение качества поверхности полупроводниковых пластин информационно-измерительных устройств
- Автор:
Игонина, Татьяна Ивановна
- Шифр специальности:
05.11.14, 05.02.08
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2007
- Место защиты:
Пенза
- Количество страниц:
152 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Формирование технологической модели детали в автоматизированных системах КПП-ТПП | Кишкурно, Виктор Станиславович | 2005 |
| Разработка метода и технологии получения субмикронных сверхпроводящих туннельных переходов для низкотемпературных информационно-измерительных приборов | Паволоцкий, Алексей Борисович | 2003 |
| Лазерная модификация углеродных наноматериалов для устройств управления световыми потоками | Михеев, Константин Георгиевич | 2013 |