Исследование незеркального рассеяния поляризованных нейтронов на неидеальных межслойных границах в многослойных магнитных структурах, используемых в поляризационной нейтронной оптике

• Автор: Сыромятников, Владислав Генрихович
• Шифр специальности: 01.04.07, 01.04.01
• Научная степень: Кандидатская
• Год защиты: 2003
• Место защиты: Гатчина
• Количество страниц: 172 с. : ил

1.1. Полное внешнее отражение и преломление нейтронов на границе

среды и вакуума

1.2. Отражение нейтронов от многослойной

тонкопленочной структуры.

1.3. Рассеяние нейтронного, рентгеновского и синхротронного излучений на неидеальных межслойных границах в многослойных

тонкопленочных структурах

Глава II. Использование поляризационной нейтронной рсфлектометрии для исследования магнитных

многослойных структур.

2.1. Поляризационная нейтронная рефлектометрия

2.2. РГ1Н2М двухмодовый рефлектометр на поляризованных нейтронах с

анализом поляризации после образца.

2.2.1. Общая схема установки
2.2.2. Разрешение рефлектометра и первичная обработка данных
2.2.3. Двойной зеркальный монохроматор
2.2.4. Сравнение двух режимов мод работы рефлектометра РН2М
2.2.5. Автоматизация управления рефлектометром Р1Н2М
2.3. Рефлектометр
2.4. Рефлектометр .
2.5. Рефлектометр
2.6. Приготовление образцов.
2.7. Выводы.
Глава III. Исследование незеркального рассеяния
поляризованных нейтронов на неидеальных межслойных
границах в многослойных магнитных структурах.
3.1. Исследования II
3.2. Исследования на
3.3. Исследования на
3.4. Теория незеркалького рассеяния поляризованных нейтронов.
3.5. Обсуждение экспериментальных результатов.
3.6. Выводы.
Глава IV. Нейтронные поляризующие и неполяризующие многослойные структуры на стеклянной и прозрачной для нейтронов подложках.
4.1. Нейтронные поляризующие и неполяризующие многослойные периодические структуры на стеклянной и прозрачной
для нейтронов подложках.
4.1.1. Поляризационный нейтронный рефлектометр с использованием
двойных многослойных монохроматоров.
4.2. Нейтронные поляризующие апериодические многослойные
структуры суперзеркала на стеклянных подложках и их применение.
4.3. Нейтронное поляризующее суперзеркало i на кремниевой кристаллической подложке
4.3.1. Применения нейтронного поляризующего суперзеркала на кремниевой кристаллической подложке
4.4. Нейтронные поляризаторы на прозрачных для нейтронов и света подложках
4.4.1. Нейтронное поляризующее суперзеркало на кварце.
4.5. Выводы
V. Заключение по результатам диссертационной работы
Список литературы


Действительно, подобрав состав среды магнитного зеркала таким образом, чтобы ядерная и магнитная части потенциала были бы равны друг другу по абсолютной величине, тогда нейтроны со спином по полю будут отражаться, т. I и Я 0, а нейтроны с антипараллельным направлением спина, вообще, не будут отражаться, т. Г 0 из 1. Эта идея была успешно реализована в ПИЯФ в году на высокоэффективных магнитных нейтронных зеркалах, представляющих собой поляризующее покрытие СоРе с антиотражающим подслоем ТЮс1, нанесенные на полированное стекло . В качестве нейтронных зеркал используются тонкие пленки 1 и , нанесенные на полированные стеклянные подложки. Изотоп никеля 1 имеет максимальный критический угол из всех элементов и их стабильных изотопов, а1 2. А . В последнее время в нейтроннофизическом эксперименте стали активно использоваться суперзеркала усовершенствованные нейтронные зеркала, имеющие критические углы, в 2 раза и более превышающие критический угол для зеркал с природным никелем, имеющего критический угол а, 1. А. Величины критических углов суперзеркал ХктХМ определяются относительным парамегром т, где
т . Отражение нейтронов от многослойной тонкопленочной структуры. Рассмотрим гипотетическую многослойную структуру произвольного вида, состоящую из набора однородных идеальных слоев на подложке. Каждый тый слой из этого набора характеризуется толщиной ст и потенциалом Ут или соответствующим критическим углом см. Рис. Распределение потенциала внутри данной структуры вдоль координаты г, направленной перпендикулярно плоскости слоев вглубь структуры показано на Рис. Координата 1п, где т 1,2. М определяет границы слоев.