Анализ ключевых характеристик методов локальной диагностики полупроводников - метода наведенного рентгеновским пучком тока и рентгеновского флуоресцентного метода
- Автор:
Шабельникова, Яна Леонидовна
- Шифр специальности:
01.04.07, 05.27.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2013
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
155 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Релаксационные процессы и исследование явлений переноса, упругих и акустических свойств растворов электролитов | Акдодов, Донаёр Мавлобахшович | 2017 |
| Исследование механизмов локальной проводимости наноструктурированных материалов методами атомно-силовой микроскопии | Гущина, Екатерина Владимировна | 2017 |
| Влияние фрактальности поверхности на электрические свойства поликристаллов | Кобелев, Владимир Леонидович | 1999 |