Анализ ключевых характеристик методов локальной диагностики полупроводников - метода наведенного рентгеновским пучком тока и рентгеновского флуоресцентного метода
- Автор:
Шабельникова, Яна Леонидовна
- Шифр специальности:
01.04.07, 05.27.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2013
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
155 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Исследование полей упругих деформаций и напряжений в массивах вертикально упорядоченных Ge(Si)-наноостровков | Бобров, Александр Игоревич | 2015 |
| Статика и динамика ближайшей окрестности критической точки | Иванов, Дмитрий Юрьевич | 2001 |
| Фазовые превращения в концентрированных твёрдых растворах водорода на основе ZrV2 и HfV2 | Богданова, Александра Николаевна | 2006 |