Анализ ключевых характеристик методов локальной диагностики полупроводников - метода наведенного рентгеновским пучком тока и рентгеновского флуоресцентного метода
- Автор:
Шабельникова, Яна Леонидовна
- Шифр специальности:
01.04.07, 05.27.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2013
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
155 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Диссертационная работа «Анализ ключевых характеристик методов локальной диагностики полупроводников - метода наведенного рентгеновским пучком тока и рентгеновского флуоресцентного метода», автор — Шабельникова, Яна Леонидовна, относится к типу: кандидатская диссертация по специальности 01.04.07, 05.27.01. Работа подготовлена в городе Москва в 2013 году. Объем работы: 155 с. : ил.. Внутренний код товара: 01006559338. На странице представлены основные сведения о диссертации, включая название, автора, год, город, тип работы и шифр специальности.
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Магнитные свойства систем однодоменных и квазиоднодоменных взаимодействующих частиц | Афремов, Леонид Лазаревич | 1999 |
| Влияние экранирования деполяризующих полей на кинетику доменной структуры монокристаллов семейства ниобата лития и танталата лития | Ахматханов, Андрей Ришатович | 2012 |
| Синтез и свойства композиционных нанодисперсных оксидов | Сазонов, Роман Владимирович | 2010 |