Исследование распределения концентрации свободных носителей заряда в полупроводниковых материалах и структурах с использованием атомно-силовой микроскопии
- Автор:
Кусакин Дмитрий Сергеевич
- Шифр специальности:
01.04.10
- Научная степень:
кандидатская
- Год защиты:
2017
- Место защиты:
Российская Федерация
- Количество страниц:
134
Стоимость:
700 р.499 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Спектры электронных локальных состояний в фотопроводнике поливинилкарбазоле, применяемом в электрофотографии | Газиев, Закир Абдумажидович | 1983 |
| Создание и исследование источников спонтанного и когерентного излучения на основе AIIIBV для средней ИК-области спектра (λ=2-5 мкм) | Гребенщикова, Елена Александровна | 2007 |
| Дырочные состояния в кубических полупроводниках и в низкоразмерных полупроводниковых гетероструктурах | Полупанов, Александр Федорович | 2002 |