Исследование распределения концентрации свободных носителей заряда в полупроводниковых материалах и структурах с использованием атомно-силовой микроскопии
- Автор:
Кусакин Дмитрий Сергеевич
- Шифр специальности:
01.04.10
- Научная степень:
кандидатская
- Год защиты:
2017
- Место защиты:
Российская Федерация
- Количество страниц:
134
Стоимость:
700 р.499 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Диссертационная работа «Исследование распределения концентрации свободных носителей заряда в полупроводниковых материалах и структурах с использованием атомно-силовой микроскопии», автор — Кусакин Дмитрий Сергеевич, относится к типу: кандидатская диссертация по специальности 01.04.10. Работа подготовлена в городе Российская Федерация в 2017 году. Объем работы: 134. На странице представлены основные сведения о диссертации, включая название, автора, год, город, тип работы и шифр специальности.
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Термо- и фотостимулированные процессы в системах полупроводник - металл, полупроводник - органическая среда | Костенко, Михаил Иванович | 1997 |
| Развитие емкостных методов измерения профилей легирования полупроводниковых структур | Уткин, Алексей Борисович | 1999 |
| Транспортные свойства углеродных наноструктур на основе графита и многостенных нанотрубок | Латышев, Александр Юрьевич | 2009 |