Исследование распределения концентрации свободных носителей заряда в полупроводниковых материалах и структурах с использованием атомно-силовой микроскопии
- Автор:
Кусакин Дмитрий Сергеевич
- Шифр специальности:
01.04.10
- Научная степень:
кандидатская
- Год защиты:
2017
- Место защиты:
Российская Федерация
- Количество страниц:
134
Стоимость:
700 р.499 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Диагностика фазовых превращений в приповерхностных слоях арсенида галия с помощью поверхностных акустических волн | Марков, Игорь Александрович | 2010 |
| Особенности контактных методов измерений кинетических коэффициентов анизотропных полупроводниковых структур | Заворотний, Анатолий Анатольевич | 2017 |
| Исследование спиновых взаимодействий в разбавленном магнитном полупроводнике (Ga,Mn)As методами горячей фотолюминесценции и неупругого рассеяния света с переворотом спина | Димитриев, Григорий Семенович | 2018 |