Исследование распределения концентрации свободных носителей заряда в полупроводниковых материалах и структурах с использованием атомно-силовой микроскопии
- Автор:
Кусакин Дмитрий Сергеевич
- Шифр специальности:
01.04.10
- Научная степень:
кандидатская
- Год защиты:
2017
- Место защиты:
Российская Федерация
- Количество страниц:
134
Стоимость:
700 р.499 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Диссертационная работа «Исследование распределения концентрации свободных носителей заряда в полупроводниковых материалах и структурах с использованием атомно-силовой микроскопии», автор — Кусакин Дмитрий Сергеевич, относится к типу: кандидатская диссертация по специальности 01.04.10. Работа подготовлена в городе Российская Федерация в 2017 году. Объем работы: 134. На странице представлены основные сведения о диссертации, включая название, автора, год, город, тип работы и шифр специальности.
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Получение твердых растворов (SiC)1-x(AlN)x методом магнетронного распыления и исследование их свойств | Гусейнов, Марат Керимханович | 2004 |
| Особенности расчета распределения концентрации собственных точечных дефектов в монокристаллах кремния | Пузанов, Дмитрий Николаевич | 2007 |
| Фотолюминесцентная спектроскопия полупроводниковых наноструктур с планарно-неоднородными слоями | Хабаров, Юрий Васильевич | 2007 |