Исследование распределения концентрации свободных носителей заряда в полупроводниковых материалах и структурах с использованием атомно-силовой микроскопии
- Автор:
Кусакин Дмитрий Сергеевич
- Шифр специальности:
01.04.10
- Научная степень:
кандидатская
- Год защиты:
2017
- Место защиты:
Российская Федерация
- Количество страниц:
134
Стоимость:
700 р.499 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Исследование зарядопереноса в структурах металл-анодный окисел металла-полупроводник | Лалэко, Владислав Анатольевич | 1982 |
| Резонансы и локализованные состояния в сложных наноструктурах | Журавлёв, Максим Николаевич | 2009 |
| Влияние адсорбции молекул газа на поверхностную электронную проводимость оксидных полупроводников | Аньчков, Денис Геннадьевич | 2010 |