Диагностика приборных структур на основе кремниевых и углеродных слоев методом спектроскопии комбинационного рассеяния света
- Автор:
Левицкий, Владимир Сергеевич
- Шифр специальности:
05.27.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2016
- Место защиты:
Санкт-Петербург
- Количество страниц:
126
Стоимость:
700 р.499 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Прецизионная литография в твердотельной электронике и микроэлектронике | Марголин, Владимир Петрович | 1998 |
| Границы раздела в тонкопленочных структурах с сегнетоэлектрическими слоями | Афанасьев, Петр Валентинович | 2006 |
| Математическое моделирование процесса осаждения нитрида кремния из дихлоросилана и аммиака | Новоселов, Константин Петрович | 2000 |