Диагностические методы оценки качества и надежности интегральных схем с использованием метода критического напряжения питания
- Автор:
Винокуров, Александр Александрович
- Шифр специальности:
05.27.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2019
- Место защиты:
Воронеж
- Количество страниц:
97
Стоимость:
700 р.499 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Твердотельные ядерные магнито-резонансные (ЯМР) ансамблевые квантовые компьютеры : Исследования физических основ и проблем реализации | Кокин, Александр Александрович | 2003 |
| Формирование диэлектрических слоев интегральных схем методами химического осаждения | Воротилов, Константин Анатольевич | 2000 |
| Разработка технологии изготовления, исследование свойств нанокомпозитного материала состава SiO2SnOxCuOy и характеристик сенсора газа на его основе | Копылова, Наталья Федоровна | 2009 |