Математические модели, программно-аппаратные и технологические средства для контроля и классификации изображений наноструктур в туннельном микроскопе
- Автор:
Липанов, Святослав Иванович
- Шифр специальности:
05.11.13, 05.11.14
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2017
- Место защиты:
Ижевск
- Количество страниц:
167
Стоимость:
700 р.499 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Разработка и исследование технологических бесконтактных датчиков массы для систем управления перерабатывающими линиями | Рыжков, Владимир Витальевич | 1998 |
| Микроволновые методы и реализующие их системы контроля теплофизических характеристик строительных материалов и изделий | Голиков, Дмитрий Олегович | 2013 |
| Автоматизированное устройство для измерения вязкости жидкости по методу Пуазейля | Чупаев, Андрей Викторович | 2010 |