Математические модели, программно-аппаратные и технологические средства для контроля и классификации изображений наноструктур в туннельном микроскопе
- Автор:
Липанов, Святослав Иванович
- Шифр специальности:
05.11.13, 05.11.14
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2017
- Место защиты:
Ижевск
- Количество страниц:
167
Стоимость:
700 р.499 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Исследование магнитных полей дефектов и разработка аппаратуры для контроля горячекатаных труб | Хватов, Леонид Анатольевич | 1984 |
| Исследование вакуумно-камерного способа локализации течей и разработка устройства с датчиком по теплопроводности | Костиков, Евгений Сергеевич | 2012 |
| Термоэлектрический метод контроля неравномерности температурного поля в печах и термокамерах | Маркова, Наталья Николаевна | 2005 |