Высокоскоростной спектрофотометрический метод измерения толщин многослойных пленочных структур
- Автор:
Цепулин, Владимир Германович
- Шифр специальности:
05.11.07
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2019
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
167
Стоимость:
700 р.499 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Векторная теория и математические модели дифракции света в микроструктурах и высокоапертурных оптических системах | Вознесенский, Николай Борисович | 2000 |
| Формирование и анализ параметров когерентных световых полей методами цифровой голографии для бесконтактного контроля объектов | Гендин, Владислав Геннадьевич | 2013 |
| Оптические методы гильберт-преобразований световых сигналов | Арбузов, Виталий Анисифорович | 2003 |