Особенности контактных методов измерений кинетических коэффициентов анизотропных полупроводниковых структур
- Автор:
Заворотний, Анатолий Анатольевич
- Шифр специальности:
01.04.10
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2017
- Место защиты:
Липецк
- Количество страниц:
169
Стоимость:
700 р.499 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Особенности расчета распределения концентрации собственных точечных дефектов в монокристаллах кремния | Пузанов, Дмитрий Николаевич | 2007 |
| Перспективные композиционные материалы на основе углеродных наноструктур для суперконденсаторов | Шульга Наталья Юрьевна | 2016 |
| Исследования деформированного состояния полупроводниковых гетероструктур на основе соединений А3В5 с помощью электронного зонда | Уманский, Владимир Евгеньевич | 1983 |