Особенности контактных методов измерений кинетических коэффициентов анизотропных полупроводниковых структур
- Автор:
Заворотний, Анатолий Анатольевич
- Шифр специальности:
01.04.10
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2017
- Место защиты:
Липецк
- Количество страниц:
169
Стоимость:
700 р.499 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Фотоэлектрические и оптические свойства структур на основе аморфных и кристаллических кремниевых наночастиц | Кен Ольга Сергеевна | 2017 |
| Определение энергетического спектра гетероструктур с квантовыми ямами в системе InGaAs/GaAs по данным спектроскопии адмиттанса | Петровская, Анастасия Николаевна | 2008 |
| Исследование фотодиодных структур на основе фосфида галлия и твердых растворов A III B V для селективных фотоприемников | Тарасов, Сергей Анатольевич | 2001 |