Особенности контактных методов измерений кинетических коэффициентов анизотропных полупроводниковых структур
- Автор:
Заворотний, Анатолий Анатольевич
- Шифр специальности:
01.04.10
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2017
- Место защиты:
Липецк
- Количество страниц:
169
Стоимость:
700 р.499 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Исследование глубоких энергетических уровней в барьерных структурах на основе кристаллического и аморфного гидрогенизированного кремния | ГУДЗЕВ ВАЛЕРИЙ ВЛАДИМИРОВИЧ | 2015 |
| Механическое двойникование и его влияние на электрические свойства висмута и его сплавов | Ланкин, Сергей Викторович | 1998 |
| Радиационно-термические процессы в кремниевых биполярных структурах и их влияние на электрофизические параметры | Лагов, Петр Борисович | 1999 |