Особенности контактных методов измерений кинетических коэффициентов анизотропных полупроводниковых структур
- Автор:
Заворотний, Анатолий Анатольевич
- Шифр специальности:
01.04.10
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2017
- Место защиты:
Липецк
- Количество страниц:
169
Стоимость:
700 р.499 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Изменения оптических свойств халькогенидных стеклообразных полупроводников системы мышьяк-селен, стимулированные внешними воздействиями | Колобов, Александр Владимирович | 1983 |
| Радиоэлектрический эффект в гетероструктурах карбид кремния на кремнии | Щербак, Андрей Владимирович | 2005 |
| Локализованные состояния в гетеросистемах на основе кремния, сформированные в деформационных полях | Антонова, Ирина Вениаминовна | 2009 |