Особенности контактных методов измерений кинетических коэффициентов анизотропных полупроводниковых структур
- Автор:
Заворотний, Анатолий Анатольевич
- Шифр специальности:
01.04.10
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2017
- Место защиты:
Липецк
- Количество страниц:
169
Стоимость:
700 р.499 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Диэлектрические потери в щелочно-галоидных кристаллах с дислокациями в килогерцевом диапазоне | Рыбянец, Валерий Александрович | 1984 |
| Исследование глубоких энергетических уровней в барьерных структурах на основе кристаллического и аморфного гидрогенизированного кремния | ГУДЗЕВ ВАЛЕРИЙ ВЛАДИМИРОВИЧ | 2015 |
| Локализованные примесные центры с частично заполненными d- и f- оболочками в бинарных полупроводниках | Ильин, Николай Петрович | 2000 |