Кристаллизация стекол в системах Bi2O3-SiO2 и Bi2O3-GeO2

• Автор: Ворончихина, Мария Евгеньевна
• Шифр специальности: 05.27.06
• Научная степень: Кандидатская
• Год защиты: 2010
• Место защиты: Москва
• Количество страниц: 171 с. : ил.

Содержание
Введение

1 Глава. Обзор литературы

1.1. Оксиды висмута

1.1.1. Оксиды висмута с различными степенями окисления

1.1.2. Модификации оксида висмута В12(Э

1.2. Диаграммы фазовых равновесий в системах В1203- ЯЮ2 и В1203-0е02

1.2.1. Стабильные Т-Х диаграммы

1.2.2. Метастабильные Т-Х диаграммы

1.3. Структура, свойства и получение кристаллов эвлитинов

1.3.1. Структура эвлитинов

1.3.2. Свойства эвлитинов
1.3.3. Способы получения монокристаллов эвлитинов
1.3.4. Кристаллы эвлитинов, легированные ионами неодима
1.4. Стекла на основе оксида висмута
1.4.1. Свойства висмутсиликатных и висмутгерманатных стекол
1.4.2. Строение висмутсиликатных и висмутгерманатных стекол
1.5. Получение прозрачной стеклокерамики
1.5.1. Явления, происходящие при термообработке стекла
1.5.2. Определение температур термообработок
1.5.3. Кристаллизация стекол на основе оксида висмута и оксидов германия и кремния
1.6. Выводы из обзора литературы
2 Глава. Характеристики реактивов, материалы, оборудование и методы исследования
2.1. Исходные реактивы и материалы
2.2. Получение стекла
2.2.1. Приготовление шихты
2.1.2. Варка и формование стекла
2.1.3. Механическая обработка образцов стекол
2.3. Методика получения стеклокристаллических образцов
2.4. Методики исследования образцов стекла и стеклокерамики
2.4.1. Определение напряжений в стекле
2.4.2. Определение характеристических температур стекол методом дифференциально-термического анализа
2.4.3. Определение характеристических температур стекол методом дилатометрии
2.4.4. Изучение однородности стекол методом рассеяния света гелий-неонового лазера
2.4.5. Исследования образцов под микроскопом
2.4.6. Определение показателей преломления стекол и стеклокерамических образцов методом Лодочникова
2.4.7. Определение микротвердостей стекол и стеклокерамических образцов
2.4.8. Определение плотностей образцов стекол и стеклокерамики
2.4.9. Изучение состава стекол и стеклокерамических образцов методом рентгенофазового анализа
2.4.10. Изучение люминесценции образцов стекол и стеклокерамики
2.4.11. Изучение спектров поглощения образцов стекол и стеклокерамики
2.4.12. Изучение электрических свойств стекол
2.4.13. Изучение радиационной стойкости стекол и стеклокерамики
2.4.14. Определение сцинтилляционных характеристик висмутгерманатных стекол и стеклокерамики
3 Глава. Получение и кристаллизация стекол составов 2Bi203:3Si02 и 2Bi203:3Ge
3.1. Влияние режимов варки на свойства стекол
3.1.1. Окраска стекол
3.1.2. Гомогенность стекол
3.1.3. Электрические свойства
3.2. Определение характеристических температур
3.3. Кристаллизация стекол
3.4. Выводы по главе
4 Глава. Физико-химические свойства стекол и стеклокерамики
4.1. Плотности стекол и стеклокристаллических материалов
4.2. Показатели преломления стекол и стеклокристаллических материалов
4.2.1. Показатели преломления стекол и стеклокристаллических образцов составов 2Bi203:3Si02 и 2Bi203:3Ge
4.2.2. Показатели преломления стекол составов 2Bi203:3Si02 и 2Bi203:3Ge02, легированных ионами Nd3+
4.3. Результаты определения микротвердостей стекол и
стеклокристаллических материалов
4.4. Спектроскопия стекол и стеклокристаллических материалов
4.4.1. Спектры поглощения стекол и стеклокристаллических материалов составов 2Bi203:3Si02 и 2Bi203:3Ge02, легированных и нелегированных неодимом
4.4.2. Спектры люминесценции стекол составов 2Bi203:3Si02 и 2Bi203:3Ge02, легированных и нелегированных Nd3+
4.5. Воздействие у-лучей на стекла и стеклокерамику
4.5.1. Радиационная стойкость материалов
4.5.2. Сцинтилляционные свойства висмутгерманатных материалов
Заключение
Список используемой литературы

хорошие механические свойства при обработке также являются достоинствами ВвО [42].
Таблица 1.
Характеристики некоторых сцинтилляционных материалов
Bi4Ge30i2 Nal (TI) Csl (Т1) BaF2 Сб1 CeF3 Gd2Si
Плотность, г/см3 7,13 3,7 4,51 4,9 4,53 6,16 6,
Радиационная длина Хо, см 1.12 2,59 1,86 2,1 1,86 1,7 1,
Время высвечивания, не: быстрое медленное 300 230 900 0,6 620 10 103 30
Пиковая эмиссия, нм: быстрая медленная 480 415 550 220 310 305 400 375
Коэффициент преломления 2,15 1,85 1,8 1,56 1,8 1,68 1,
Относительный световой выход: быстрый медленный 10-20 100 45 5 16 4 4 4-5
Г игроскопичность нет да неболь- шая нет неболь- шая нет нет
Радиационная стойкость, рад 105"6 103 103 Ю6-/ Ю4'3 106'7 10“
Длина ядерного взаимодействия, см, л, 23 41,3 36,4 21,
Хо/Л| 0,049 0,063 0,051 0,
Доступная длина Хо 20 20 20 10-15 20 3
Цена на 1994 год, $/см3 10-12 1-2 7-8 1-2 10
Сечение радиационного захвата тепловых нейтронов (10'24 см2) молекулой вещества сцинтиллятора 7,1 6,7 35 1,