Разработка неразрушающих методов контроля ионно-плазменных процессов формирования тонкопленочных структур и элементов оборудования для создания устройств электронной техники
- Автор:
Симакин, Сергей Борисович
- Шифр специальности:
05.27.06
- Научная степень:
Докторская
- Год защиты:
2009
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
388 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Процессы обработки затравок для выращивания совершенных объемных монокристаллов полупроводникового карбида кремния методом ЛЭТИ | Сысоев, Андрей Александрович | 2001 |
| Механизмы переноса носителей заряда в солнечных батареях на основе a-Si:H и его сплавов И c-Si | Сизов, Алексей Владимирович | 2004 |
| Молекулярно-лучевая эпитаксия гетероэпитаксиальных структур SiGe/Si | Русаков, Демьян Николаевич | 2003 |