Обеспечение единства измерений спектрорадиометрических величин в области вакуумного и ближнего ультрафиолета на основе комплекса эталонных источников излучения

• Автор: Аневский, Сергей Иосифович
• Шифр специальности: 05.11.15
• Научная степень: Докторская
• Год защиты: 2003
• Место защиты: Москва
• Количество страниц: 218 с. : ил

СОДЕРЖАНИЕ
ВВЕДЕНИЕ
ГЛАВА 1. ПРОБЛЕМЫ СПЕКТРОРАДИОМЕТРИИ ВАКУУМНОГО
И БЛИЖНЕГО УЛЬТРАФИОЛЕТА
1Л. Эталонные высокотемпературные модели
черного тела
1.2. Эталонные плазменные источники
ультрафиолетового излучения
1.3 Эталонные источники синхротронного излучения в
области вакуумного и ближнего ультрафиолета
1.4 Вторичные эталонные источники
1.5 Эталонные приемники ультрафиолетового излучения
ГЛАВА 2. ТЕОРЕТИЧЕСКАЯ МОДЕЛЬ ЭТАЛОННОГО ИСТОЧНИКА В ОБЛАСТИ ВАКУУМНОГО И БЛИЖНЕГО УЛЬТРАФИОЛЕТА
2.1 Оптимизация параметров специализированного эталонного источника синхротронного
излучения
2.2 Влияние относительных размеров электронного сгустка на спектральные энергетические
характеристики синхротронного излучения
2.3 Влияние относительных размеров электронного сгустка на поляризационные характеристики
синхротронного излучения
2.4 Определение радиуса орбиты и энергии электронов специализированного источника
синхротронного излучения

ГЛАВА 3. ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СПЕЦИАЛЬНЫЙ ЭТАЛОН ЕДИНИЦЫ СПЕКТРАЛЬНОЙ ПЛОТНОСТИ ЭНЕРГЕТИЧЕСКОЙ ЯРКОСТИ В ДИАПАЗОНЕ ДЛИН ВОЛН 0,04-0,25 МКМ
3.1 Методы воспроизведения и передачи
размера единицы
3.2 Спектральный компаратор
3.3 Анализ погрешности воспроизведения и передачи размера единицы спектральной плотности
энергетической яркости
3.3.1 Погрешность определения радиуса
равновесной орбиты
3.3.2 Передача размера единицы спектральной плотности энергетической яркости от модели черного тела
3.3.3 Погрешность измерения энергии
ускоренных частиц
3.3.4 Погрешность учета осевых, радиальных и фазовых
размеров электронного сгустка
3.3.5 Погрешности системы регистрации
синхротронного излучения
3.3.6 Погрешности поляризационных измерений
3.3.7 Погрешности ВУФ рефлектометра
3.3.8 Погрешности, вызванные влиянием рассеянного
излучения и высших порядков дифракции
3.3.9 Погрешность воспроизведения размера единицы спектральной плотности энергетической яркости
на Государственном специальном эталоне
3.3.10 Погрешность передачи размера единицы спектральной плотности энергетической яркости
на Государственном специальном эталоне

ГЛАВА 4. ВТОРИЧНЫЕ И РАБОЧИЕ ЭТАЛОНЫ.
ГОСУДАРСТВЕННАЯ ПОВЕРОЧНАЯ СХЕМА
4.1 Вторичные и рабочие эталоны спектральной плотности энергетической яркости непрерывного излучения
в диапазоне длин волн 0,12 - 0,25 мкм
4.2 Вторичные и рабочие эталоны спектральной плотности энергетической яркости импульсного излучения
в диапазоне длин волн 0,04 -0,25 мкм
4.3 Погрешности вторичных и рабочих эталонов,
рабочих средств измерений
ГЛАВА 5. РАБОЧИЕ СРЕДСТВА ИЗМЕРЕНИЙ
СПЕКТРОРАДИОМЕТРИИ УЛЬТРАФИОЛЕТОВОГО
ИЗЛУЧЕНИЯ В ДИАПАЗОНЕ ДЛИН ВОЛН 0,04-0,25 МКМ
5.1 Методы преобразования
спектрорадиометрических величин
5.2 Измерение абсолютной спектральной чувствительности приемников ультрафиолетового излучения на
линии альфа серии Лаймана
5.3 Средства измерений коэффициентов зеркального и диффузного отражения в диапазоне вакуумного
ультрафиолетового излучения
5.4 Измерения интегральной эффективной освещенности ультрафиолетового излучения
ЗАКЛЮЧЕНИЕ
ЛИТЕРАТУРА

спектром. Поэтому наилучшие результаты дает использование ионизационных камер в сочетании с источником синхротронного излучения.
Использование эталонного приемника для измерения характеристик ультрафиолетового излучения источников проводится метрологическими институтами на отдельных спектральных линиях, в первую очередь для сличения радиометрических шкал при выполнении работ по фундаментальной метрологии. Характеристики источников излучения в широком диапазоне не могут быть определены с использованием абсолютной спектральной чувствительности приемников излучения из-за трудностей, связанных с определением спектрального коэффициента пропускания вакуумного монохроматора. При этом необходимо учитывать поляризующее действие дифракционной решетки и то, что эффективность решетки меняется под действием интенсивной коротковолновой составляющей синхротронного излучения. Существенно большую роль для спектрорадиометрии источников УФ излучения играет использование достижений спектрорадиометрии приемников УФ излучения в части создания высокостабильных вторичных эталонных приемников [113 - 119]. Детекторная стабилизация характеристик излучения вторичных эталонных источников с использованием опорных высокостабильных приемников излучения является важной тенденцией в национальных метрологических институтах.
Выводы первой главы:
1. Для высокоточного воспроизведения и передачи размера спектральной плотности энергетической яркости излучения в области вакуумного и ближнего ультрафиолета в диапазоне длин волн 0,04-0,25 мкм путь использования эталонного источника синхротронного излучения в сочетании с высокотемпературной моделью черного тела является предпочтительным по сравнению с использованием водородной плазмы вследствие более высокой яркостной температуры, отсутствия линий в спектре, отсутствия необходимости использования системы дифференциальной откачки и более высокой