Разработка методик многофакторного анализа технологических измерений и проектирования параметров технологической линии при производстве ракетно-космической техники
- Автор:
Шишкин, Андрей Юрьевич
- Шифр специальности:
05.11.15
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2007
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
112 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Разработка и исследование методов оценивания результатов измерений в новых метрологических задачах | Чуновкина, Анна Гурьевна | 2010 |
| Создание средств метрологического обеспечения измерения отношения мощностей в диапазоне СВЧ | Пивак, Алексей Вячеславович | 2003 |
| Методы и средства измерений оптических частот и их применение в эталонах времени, частоты и длины | Домнин, Юрий Сергеевич | 1999 |