Разработка методик многофакторного анализа технологических измерений и проектирования параметров технологической линии при производстве ракетно-космической техники
- Автор:
Шишкин, Андрей Юрьевич
- Шифр специальности:
05.11.15
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2007
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
112 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Обеспечение единства измерений спектрорадиометрических величин в области вакуумного и ближнего ультрафиолета на основе комплекса эталонных источников излучения | Аневский, Сергей Иосифович | 2003 |
| Разработка и исследование мер толщины покрытий для поверки магнитных толщиномеров | Бабаджанова, Марианна Леоновна | 2007 |
| Метрологическое обеспечение приборов для измерения артериального давления и частоты сердечных сокращений | Гогин, Валерий Алексеевич | 2005 |