Разработка методик многофакторного анализа технологических измерений и проектирования параметров технологической линии при производстве ракетно-космической техники
- Автор:
Шишкин, Андрей Юрьевич
- Шифр специальности:
05.11.15
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2007
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
112 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Исследование процесса поверки средств измерений методом статистического имитационного моделирования | Юров, Лев Васильевич | 2019 |
| Разработка и исследование малогабаритных ампул и установок для воспроизведения температур фазовых переходов галлия и индия в портативных калибраторах температуры | Васильев, Евгений Васильевич | 2011 |
| Разработка и исследование научно-технических основ метрологического обеспечения производства и эксплуатации счетчиков воды | Степанов, Олег Сергеевич | 2004 |