Методы и средства метрологического обеспечения при статистическом управлении качеством процессов в полиграфии

• Автор: Коденцев, Дмитрий Александрович
• Шифр специальности: 05.11.15
• Научная степень: Кандидатская
• Год защиты: 2010
• Место защиты: Москва
• Количество страниц: 178 с. : ил.

Оглавление
ВВЕДЕНИЕ

ГЛАВА 1. ОБЗОР СОСТОЯНИЯ ПРОБЛЕМЫ, ПОСТАНОВКА ЗАДАЧИ

1.1. Современные тенденции в контроле качества печати

1.2. Методы и средства измерений, используемые в полиграфии

1.2.1. Методы и средства измерений, используемые при контроле цвета в полиграфии

1.2.2. Методы и средства измерений, используемые для контроля линейно-угловых параметров характеризующих правильное положение оттиска на бумаге

1.3. Цифровые устройства в метрологическом обеспечении

1.4. Статистическое управление процессами (Statistical Process Control)

1.4.1. Статистическое управление процессами

1.4.2. Основные задачи СУП:

1.4.3. Инженерная концепция изменчивости
1.4.4. Концепция изменчивости Шухарта
1.4.5. Задачи статистики в управлении качеством
1.4.6. Стандарты серии ISO 9000 и статистическое управление процессами
1.5. Математические пакеты статистической обработки данных мониторинга и анализа процесса
1.6. Инструменты статистического контроля качества и статистического управления процессами
1.6.1. Средние величины
1.6.2. Показатели вариации
1.6.3. Кривая нормального распределения (распределение Гаусса)
1.6.4. Контрольные карты
1.6.5. Анализ процессов при помощи показателей (индексов) возможностей
1.6.6. Гистограммы
Выводы по первой главе
ГЛАВА 2. МЕТОДЫ И МОДЕЛИ ИССЛЕДОВАНИЯ
2.1. Цифровое представление сигналов
2.2. Цифровое представление изображений
2.3. Методы построения градуировочных характеристик
2.4. Нормируемые метрологические характеристики цифровых СИ
2.5. Случайные величины и их распределения
Выводы по второй главе
ГЛАВА 3. РЕАЛИЗАЦИЯ АРМ КОНТРОЛЕРА, ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНЫЕ ИССЛЕДОВАНИЯ
3.1. Экспериментальное определение оптимальных параметров сканирования, обеспечивающих корректную работу АРМ Контролера
3.2. Исследование случайной составляющей погрешности, определение номинальной статической характеристики
3.3. Идентификация формы закона распределения случайной погрешности
экспериментальных данных
3.4. Определение доверительных границ случайной погрешности результата
измерения
3.5. Определение случайной составляющей погрешности
3.6. Определение систематической составляющей погрешности

3.7. Определение границ погрешности результата измерения
3.8. Определение абсолютной и относительной погрешности
3.9. Экспериментальное определение зависимости случайной погрешности от места
расположения измеряемого объекта на рабочей поверхности сканера
3.10. Ср индекс воспроизводимости процесса без учета настроенности процесса на центр поля допуска
3.11. Срк индекс воспроизводимости с учетом центрирования процесса измерения..
3.12. Выявленные в ходе экспериментов особенности работы AutoCAD с растровыми
файлами
Выводы по третьей главе
ГЛАВА 4. ПЕРСПЕКТИВЫ ПРИМЕНЕНИЯ РЕЗУЛЬТАТОВ ИССЛЕДОВАНИЯ
4.1. Структура и особенности применения АРМ Контролера
4.2. Реализация инструментов Статистического управления процессами посредством
Microsoft Excel
Выводы по четвертой главе
ЗАКЛЮЧЕНИЕ
Приложение А Акт внедрения результатов диссертационной работы
Литература

Список аббревиатур
АИС - автоматическая измерительная система
ИВК - измерительно-вычислительный комплекс
ИИС - информационно-измерительная система
КОП — канал общего пользования
МК - микрокалькулятор
МНК — метод наименьших квадратов
ППП - пакеты прикладных программ
СВМ - специализированная ЭВМ
СИ - средство измерений
ЦП — центральный процессор
ЭВМ - электронно-вычислительная машина
Л2 - множитель для среднего размаха R, применяемый для вычисления контрольных границ X -карт;
А$ - множитель для s, применяемый для вычисления контрольных границ X -карт;
Л4 - множитель для среднего размаха R , применяемый для вычисления контрольных границ карты медиан; i?3 , В4 - множители для s, применяемые для вычисления нижней и верхней контрольных границ соответс твенно для о -карт; с - число несоответствий в выборке, применяемое в с -картах; с - среднее число несоответствий в выборках постоянного объема «;
С4 - делитель для s, применяемый для оценки стандартного отклонения стабильного процесса;
Ср - индекс воспроизводимости стабильного по разбросу среднего процесса без учета положения;
Cpt - индекс воспроизводимости стабильного по разбросу и настройке процесса;
СИ - коэффициент воспроизводимости процесса;
d2 - делитель для R, применяемый для оценки стандартного отклонения стабильного процесса;
£>з, D4 - множители для среднего размаха R, применяемые для вычисления нижней и верхней контрольных границ R -карты;
Е2 - множитель для среднего скользящего размаха R, применяемый для вычисления контрольных границ X-карт, к - число подгрупп, использованных для вычисления контрольных границ; MR - скользящий размах;
LCL - нижняя контрольная граница (например LCLj - нижняя контрольная граница для средних, LCL^- для размахов, LCL,, - для доли несоответствующих единиц);
LSL - наименьшее предельное значение поля допуска;
п - число индивидуальных значений в подгруппе; объем подгруппы,
выборки;
« - средний объем подгруппы, выборки;
пР - число несоответствующих единиц в подгруппе или выборке объема «
(пр -карта);

межгосударственного стандарта ГОСТ 25706-83 Лупы. Типы, основные параметры. Общие технические требования [18].
В зависимости от значения основных параметров устанавливают группы луп, указанные в Табл. 1.2.2.
Табл. 1.2.2.
Г руппа Диапазон номинальных значений
увеличения линейного ноля зрения, мм
Малого увеличения До 5 х включ
Среднего увеличения Св. 5 до 10х включ
Большого увеличения и ю*
Примечание — увеличение лупы при расположении зрачка глаза в заднем фокусе следует рассчитывать по формулам:

Г = —; (1.2.2.1)

Г-«£ + 1,
(1.2.2.2)
где 250 - расстояние наилучшего видения, мм;
/' - заднее фокусное расстояние лупы, мм.
Формула (1.1.3.1) - для луп с фокусным расстоянием до 150 мм, формула (1.1.3.2) - для луп с фокусным расстоянием более 150 мм.
В зависимости от назначения устанавливают типы луп, указанные в Табл. 1.2.2.4.
Табл. 1.2.2.
Тип Назначение Конструктивное исполнение Группа лупы Оптическая система
лп (просмотровая) Для чтения, для просмотра деталей рисунков, фотоотпечатков, мелких предметов и т.д. Складные, с ручкой, штативные Малого, среднего, большого увеличения Простая однолинзовая, многолинзовая корригированная
ЛИ (измерительная) Для линейных и угловых измерений В оправе, имеющей диоптрийную подвижку и измерительную шкалу Среднего увеличения Многолинзовая корригированная
ЛЗ (зерновая) Для просмотра зерна с целью определения его качества В оправе Малого увеличения Простая однолинзовая
ЛЧ (часовая) Для применения в часовой и ювелирной промышленности Малого и среднего увеличения
ЛТ (текстильная) Для определения качества и плотности ткани (числа нитей на 1 СМ2) В складной оправе Простая однолинзовая, многолинзовая корригированная
ЛК (для просмотра кадра) Для просмотра кадров на кинофотопленке В оправе, имеющей диоптрийную подвижку и кадровое окно Простая однолинзовая
Согласно ГОСТ 25706-83 к лупам предъявляется рад обязательных требований: