Система технического зрения для производственного контроля и микроизмерений в видимом участке оптического спектра
- Автор:
Николаев, Михаил Иванович
- Шифр специальности:
05.11.13
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2007
- Место защиты:
Казань
- Количество страниц:
130 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Идентификация изображений наноструктуры поверхности в сканирующем туннельном микроскопе | Суворов, Александр Сергеевич | 2012 |
| Контроль и анализ методом ядерного магнитного резонанса влияния серы на свойства нефтей и топлив | Хайруллина, Ильвира Рифгатовна | 2008 |
| Исследование метрологических характеристик сканирующего туннельного микроскопа для изучения кластерных материалов | Шелковников, Евгений Юрьевич | 2000 |