Радиоспектроскопический метод и СВЧ спектрометр для неразрушающего контроля электронных поверхностных состояний металлов и полупроводников
- Автор:
Тамбовский, Михаил Анатольевич
- Шифр специальности:
05.11.13
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2006
- Место защиты:
Казань
- Количество страниц:
110 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Термографический комплекс контроля технологических процессов | Вальке, Алексей Александрович | 2013 |
| Программно-аппаратные средства многоканального оптико-электронного прибора дистанционного контроля высоковольтного оборудования | Галеев, Дамир Раисович | 2011 |
| Научные основы неразрушающего контроля металлических конструкций по остаточной намагниченности в области Рэлея | Гордиенко, Валерий Евгеньевич | 2009 |