Радиоспектроскопический метод и СВЧ спектрометр для неразрушающего контроля электронных поверхностных состояний металлов и полупроводников
- Автор:
Тамбовский, Михаил Анатольевич
- Шифр специальности:
05.11.13
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2006
- Место защиты:
Казань
- Количество страниц:
110 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Развитие методов зондовой микроскопии для исследования и контроля поверхностей материалов и изделий микроэлектроники | Лосев, Виталий Викторович | 2002 |
| Толщинометрия металлоконструкций на основе электромагнитно-акустического преобразования в импульсном магнитном поле | Алехин, Сергей Геннадиевич | 2013 |
| Методы и система бесконтактного неразрушающего контроля теплофизических свойств твердых материалов и изделий | Сысоев, Эдуард Вячеславович | 2000 |