Оптические системы микроскопов контроля поверхностных фотолитографических дефектов
- Автор:
Полищук, Григорий Сергеевич
- Шифр специальности:
05.11.07
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2011
- Место защиты:
Санкт-Петербург
- Количество страниц:
190 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Лазерные доплеровские методы измерения скорости нестационарного движения конденсированных сред | Наумов, Игорь Владимирович | 2000 |
| Улучшение качества изображения на основе метода фазового разнесения и нейронных сетей | Клеймёнов, Егор Викторович | 2002 |
| Полная модель сигналов ОЭС оптического дистанционного зондирования атмосферы из Космоса | Клюйков, Дмитрий Александрович | 2011 |