Дефекты и микровключения в алмазах как индикаторы условий кристаллообразования и постростовых изменений
- Автор:
Ширяев, Андрей Альбертович
- Шифр специальности:
02.00.21
- Научная степень:
Докторская
- Год защиты:
2013
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
251 с. : 38 ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Влияние оксида иттрия на свойства двойных алюминийсодержащих оксидов и керамики на их основе | Бугаева, Анна Юлиановна | 2003 |
| Синтез и магнитные свойства сложных халькогенидов хрома | Аминов, Тельман Газизович | 2002 |
| Формирование кристаллов в ультрадисперсной системе, стимулированное химическим или фазовым превращением | Тюменцев, Василий Александрович | 1999 |