Дефекты и микровключения в алмазах как индикаторы условий кристаллообразования и постростовых изменений
- Автор:
Ширяев, Андрей Альбертович
- Шифр специальности:
02.00.21
- Научная степень:
Докторская
- Год защиты:
2013
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
251 с. : 38 ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Адсорбционные процессы на поверхности раздела титан-газ : Исследования методами РФЭС, РФД и квантовой химии | Кузнецов, Михаил Владимирович | 2000 |
| Изучение влияния различных видов механической обработки на реакции в смесях молекулярных кристаллических веществ | Туманов, Иван Андреевич | 2014 |
| Синтез и свойства тонкопленочных гетероструктур на основе Ti, Nb и их оксидов | Зайцев, Сергей Витальевич | 2011 |