Дефекты и микровключения в алмазах как индикаторы условий кристаллообразования и постростовых изменений
- Автор:
Ширяев, Андрей Альбертович
- Шифр специальности:
02.00.21
- Научная степень:
Докторская
- Год защиты:
2013
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
251 с. : 38 ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Исследование реакционной способности границы фторпроводящего твердого электролита с модифицированными электродами | Урчукова, Марина Муталибовна | 2006 |
| Электрофизические свойства и структура шунгитонаполненных композиций на основе смесей полипропилена и полиэтилена | Рожков, Сергей Сергеевич | 2008 |
| Синтез, свойства и применение керамических оксидных композитных материалов со смешанной проводимостью в системе ZrO2-Bi2CuO4-Bi2O3 | Лысков, Николай Викторович | 2006 |