Дефекты и микровключения в алмазах как индикаторы условий кристаллообразования и постростовых изменений
- Автор:
Ширяев, Андрей Альбертович
- Шифр специальности:
02.00.21
- Научная степень:
Докторская
- Год защиты:
2013
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
251 с. : 38 ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Исследование состава, строения и свойств кристаллов семейства лангасита в зависимости от условий выращивания | Доморощина, Елена Николаевна | 2005 |
| Гетерофазные процессы в пленочных сенсорных структурах на кремнии | Тутов, Евгений Анатольевич | 2009 |
| Механическая активация ферментативного гидролиза полимеров биомассы дрожжей | Бычков, Алексей Леонидович | 2010 |